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J-GLOBAL ID：200903020876285521

放射線検査装置

Inventor：
澤田 良一

About 澤田 良一


Applicant, Patent owner：
株式会社島津製作所

About 株式会社島津製作所


Agent (1)： 河▲崎▼ 眞樹
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001118628
Publication number (International publication number)：2002310946
Application date： Apr. 17, 2001
Publication date： Oct. 23, 2002
Summary：
【要約】【課題】 放射線を用いた検査装置で、しかも従来のように大がかりな画像処理を必要とすることなく、画像処理のためのハードウエア並びにソフトウエアを比較的簡単なものとすることができ、低コストのもとに光を透さない材料等ににより包装された物品の割れ並びに欠けを確実に判定することのできる放射線検査装置を提供する。【解決手段】 放射線検出手段3からの各画素データについて、それぞれ周辺の画素データとの差分を演算し、その差分後の濃度データがあらかじめ設定されている濃度範囲XL〜XH内にある画素数を積算することにより、検査対象物品WAの周囲長の合計を得て、その値から割れ・欠けの有無を判定することで、放射線透視像のパターン認識等を行うことなく、簡単なデータ処理によって検査対象物品WAの割れや欠けの有無を正確に判定することを可能とする。
Claim (excerpt)：
放射線発生手段と、その放射線発生手段に対して対向配置された放射線検出手段と、その放射線発生手段および放射線検出手段の間で被検査物を搬送する搬送手段と、上記放射線検出手段からの画素データを用いてデータ処理を行うデータ処理手段を備えた放射線検査装置において、上記データ処理手段は、上記放射線検出手段からの各画素データについて、それぞれ周辺の画素データとの差分を演算し、その差分後の濃度データがあらかじめ設定されている濃度範囲内にある画素数を積算し、その積算結果から検査対象物品の周囲長の合計を得て割れ・欠けの有無を判定するように構成されていることを特徴とする放射線検査装置。
IPC (6)：
G01N 23/10 ,  G01B 15/00 ,  G01B 15/04 ,  G01T 1/00 ,  G06T 1/00 300 ,  G06T 7/60 250
FI (6)：
G01N 23/10 ,  G01B 15/00 A ,  G01B 15/04 ,  G01T 1/00 B ,  G06T 1/00 300 ,  G06T 7/60 250 A
F-Term (42)：
2F067AA51 ,  2F067AA67 ,  2F067CC00 ,  2F067EE02 ,  2F067EE10 ,  2F067HH04 ,  2F067JJ03 ,  2F067KK06 ,  2F067LL03 ,  2F067NN03 ,  2F067PP15 ,  2F067RR24 ,  2F067SS16 ,  2G001AA01 ,  2G001BA11 ,  2G001CA01 ,  2G001DA01 ,  2G001DA02 ,  2G001DA08 ,  2G001FA25 ,  2G001GA05 ,  2G001HA13 ,  2G001JA09 ,  2G001KA03 ,  2G001PA03 ,  2G001PA11 ,  5B057AA02 ,  5B057AA07 ,  5B057BA03 ,  5B057DA03 ,  5B057DB02 ,  5B057DB05 ,  5B057DB09 ,  5B057DC16 ,  5B057DC22 ,  5L096AA03 ,  5L096AA06 ,  5L096BA03 ,  5L096DA03 ,  5L096FA06 ,  5L096GA07 ,  5L096GA28
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (6)
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