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J-GLOBAL ID：200903020889977929

バッファメモリアドレス変換装置、セクタアドレス情報信頼性判定装置、欠陥セクタ判定装置、ECCブロック同期検出装置、光ディスク再生装置、媒体及び情報集合体

Inventor：
岡▲ざき▼ 誠

About 岡▲ざき▼ 誠

, 
上田 泰志

About 上田 泰志


Applicant, Patent owner：
松下電器産業株式会社

About 松下電器産業株式会社


Agent (1)： 松田 正道
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000172540
Publication number (International publication number)：2001351318
Application date： Jun. 08, 2000
Publication date： Dec. 21, 2001
Summary：
【要約】【課題】光ディスク再生装置の各種同期の異常発生や欠陥セクタの再生において、再生能力の高い光ディスク再生装置の提供を目的とする。【解決手段】 フレーム同期カウンタ値アドレス変換デコーダ202、下位IDアドレス変換デコーダ203、加減算器204、上位IDアドレス変換デコーダ205、加算器206を用い、光ディスク媒体から読み取った情報を記憶媒体の絶対的な格納アドレスに変換することにより、再生能力の高いデータを記憶媒体に格納できる。
Claim (excerpt)：
光ディスク媒体から読み出されたデータに含まれる同期パターンと、前記光ディスク媒体から読み出されたデータに含まれる、データ位置が認識できる位置データとを解析する解析手段と、前記解析した結果に基づいて、バッファメモリへ格納するアドレスを生成するアドレス生成手段とを備え、前記読み出されたデータは、前記バッファメモリの前記生成されたアドレスに対応する領域に格納されることを特徴とするバッファメモリアドレス変換装置。
IPC (8)：
G11B 20/10 ,  G11B 20/14 351 ,  G11B 20/18 520 ,  G11B 20/18 544 ,  G11B 20/18 560 ,  G11B 20/18 572 ,  G11B 20/18 ,  G11B 27/10
FI (8)：
G11B 20/10 B ,  G11B 20/14 351 Z ,  G11B 20/18 520 E ,  G11B 20/18 544 A ,  G11B 20/18 560 K ,  G11B 20/18 572 C ,  G11B 20/18 572 F ,  G11B 27/10 A
F-Term (12)：
5D044BC02 ,  5D044CC04 ,  5D044DE03 ,  5D044DE32 ,  5D044DE38 ,  5D044DE64 ,  5D044DE68 ,  5D044FG10 ,  5D044GM26 ,  5D077AA23 ,  5D077DC01 ,  5D077EA21
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (4)
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