Pat
J-GLOBAL ID:200903020916648584

インビトロDNP-NMR測定を行うための装置及び方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (4): 熊倉 禎男 ,  大塚 文昭 ,  西島 孝喜 ,  須田 洋之
Gazette classification:公表公報
Application number (International application number):2007517405
Publication number (International publication number):2007538244
Application date: May. 16, 2005
Publication date: Dec. 27, 2007
Summary:
【課題】サンプルにインビトロでDNP-NMR測定を実施するための装置及び方法を提供する。【解決手段】低温槽(2)に位置して内腔を取り囲み、それぞれのNMR及びDNP作業域(90、92)を形成する磁場発生装置(1a、1b)を含む、サンプルにインビトロDNP-NMR測定を行うための装置。DNP作業域内の適切に調製されたサンプルにDNPを行うためのシステム。NMR作業域内のサンプルにNMR処理を行うためのシステム。内腔(3)に挿入して、次にサンプルを作業域の各々にもたらすことができるサンプル位置決め機構(5)。磁場発生装置は、DNP作業域内の磁場がサンプルにDNPを行うのに適する均一性又はプロフィールを有し、NMR作業域内の磁場がサンプルにNMR処理を行うのに適する均一性又はプロフィールを有するように適切に構造化されている。【選択図】図1
Claim (excerpt):
サンプルにインビトロDNP-NMR測定を行うための装置であって、 低温槽に位置して内腔を取り囲み、それぞれのNMR及びDNP作業域を形成する磁場発生装置と、 前記DNP作業域内の適切に調製されたサンプルにDNPを行うためのシステムと、 前記NMR作業域内のサンプルにNMR処理を行うためのシステムと、 前記内腔に挿入して、次に、サンプルを前記作業域の各々の中にもたらすことができるサンプル位置決め機構と、 を含み、 前記磁場発生装置は、前記DNP作業域内の磁場が、前記サンプルにDNPを行うのに適する均一性又はプロフィールを有し、前記NMR作業域内の磁場が、該サンプルにNMR処理を行うのに適する均一性又はプロフィールを有するように適切に構造化されている、 ことを特徴とする装置。
IPC (2):
G01R 33/28 ,  G01N 24/08
FI (2):
G01N24/02 B ,  G01N24/08 510D
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (4)
  • WO-A-03/023432
  • WO-A-02/37132
  • US-A-6515260
Show all
Cited by examiner (4)
Show all

Return to Previous Page