Pat
J-GLOBAL ID:200903021310197931

半導体用接着フィルム、半導体チップ搭載用基板及び半導体装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 穂高 哲夫
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2001013335
Publication number (International publication number):2002212525
Application date: Jan. 22, 2001
Publication date: Jul. 31, 2002
Summary:
【要約】【課題】 打ち抜き時のカバーフィルムと接着剤層との剥離を防止し、かつ本圧着後のカバーフィルム除去を容易にした接着フィルムを提供するとともに、このフィルムを接着した半導体チップ搭載用基板及びこのフィルムを用いて製造される半導体装置を提供する。【解決手段】 接着剤層の少なくとも片面にカバーフィルムを備え、接着剤層とカバーフィルムとの剥離力が1〜100N/mである半導体用接着フィルム。
Claim (excerpt):
接着剤層の少なくとも片面にカバーフィルムを備え、接着剤層とカバーフィルムとの剥離力が1〜100N/mである半導体用接着フィルム。
IPC (11):
C09J 7/02 ,  B32B 27/00 ,  C09J133/00 ,  C09J163/00 ,  C09J171/10 ,  C09J201/00 ,  H01L 21/52 ,  H01L 21/60 311 ,  H01L 23/12 501 ,  H01L 23/12 ,  H01L 23/14
FI (11):
C09J 7/02 Z ,  B32B 27/00 M ,  C09J133/00 ,  C09J163/00 ,  C09J171/10 ,  C09J201/00 ,  H01L 21/52 E ,  H01L 21/60 311 R ,  H01L 23/12 501 V ,  H01L 23/12 501 Z ,  H01L 23/14 R
F-Term (78):
4F100AA01A ,  4F100AH06A ,  4F100AH06G ,  4F100AK03B ,  4F100AK25A ,  4F100AK25G ,  4F100AK33 ,  4F100AK42B ,  4F100AK46A ,  4F100AK46G ,  4F100AK49A ,  4F100AK49G ,  4F100AK53 ,  4F100AK53A ,  4F100AK53G ,  4F100AK54A ,  4F100AK54B ,  4F100AL01A ,  4F100AL05A ,  4F100AN02 ,  4F100AT00B ,  4F100CA02 ,  4F100EH46 ,  4F100EH462 ,  4F100EJ86 ,  4F100EJ862 ,  4F100GB41 ,  4F100JA05A ,  4F100JA07A ,  4F100JL11A ,  4F100JL14 ,  4F100JL14B ,  4J004AA10 ,  4J004AA11 ,  4J004AA13 ,  4J004AA16 ,  4J004AA18 ,  4J004AB05 ,  4J004CC02 ,  4J004DA02 ,  4J004DA03 ,  4J004DB02 ,  4J004EA05 ,  4J004FA05 ,  4J040DF001 ,  4J040DF002 ,  4J040EC001 ,  4J040EC061 ,  4J040EC071 ,  4J040EC151 ,  4J040EE062 ,  4J040EH031 ,  4J040EK031 ,  4J040GA05 ,  4J040GA07 ,  4J040GA11 ,  4J040GA12 ,  4J040GA22 ,  4J040HA136 ,  4J040HA156 ,  4J040HA196 ,  4J040HA206 ,  4J040HA306 ,  4J040HA316 ,  4J040HA326 ,  4J040HD30 ,  4J040JB02 ,  4J040KA16 ,  4J040KA17 ,  4J040KA42 ,  4J040LA02 ,  4J040LA06 ,  4J040NA20 ,  4J040PA23 ,  5F044KK03 ,  5F047BA34 ,  5F047BB03 ,  5F047BB05
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (3)

Return to Previous Page