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J-GLOBAL ID：200903021603193418
塗布膜形成方法及びその装置
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
中本 菊彦
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996262391
Publication number (International publication number)：1998043666
Application date： Sep. 11, 1996
Publication date： Feb. 17, 1998
Summary：
【要約】【課題】 装置の小型化を可能にし、かつ高精度な膜厚の均一化を可能にすること。【解決手段】 膜厚センサ22により半導体ウエハW表面に形成されたレジスト膜の膜厚を検出し、その検出信号をCPU23に送り、CPU23において予め記憶された情報と比較演算処理された検出情報をレジスト液温度調整器19、半導体ウエハWを回転するスピンチャック12のモータ16及びウエハ温度調整器15に送ることにより、その検出情報に基づいてレジスト液の温度、半導体ウエハWの回転数及び半導体ウエハWの温度を制御する。
Claim (excerpt)：
被処理体の表面に塗布液を供給すると共に、被処理体を回転させて、被処理体表面に塗布膜を形成する塗布膜形成方法において、上記被処理体表面に形成された塗布膜の膜厚を検出し、その検出情報に基づいて上記塗布液の温度、上記被処理体の回転数及び上記被処理体の温度を制御する、ことを特徴とする塗布膜形成方法。
IPC (4)：
B05C 11/08
, B05D 1/40
, G03F 7/16 502
, H01L 21/027
B05C 11/08
, B05D 1/40 A
, G03F 7/16 502
, H01L 21/30 564 D
, H01L 21/30 564 C
Cited by examiner (8)
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