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J-GLOBAL ID：200903021827139893

連続ガス分析計

Inventor： 平岡 秀介 ,  荒谷 克彦 ,  松久 浩明 ,  村上 博司 ,  神吉 良英
Applicant, Patent owner： 株式会社島津製作所
Agent (1)： 野口 繁雄
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996134480
Publication number (International publication number)：1997297102
Application date： Apr. 30, 1996
Publication date： Nov. 18, 1997
Summary：

【要約】【課題】 校正を短時間ですませられるようにすることにより、標準ガスボンベの容量を小さくして装置全体を小型化する。【解決手段】 標準ガス導入流路14を除湿器12の下流とし、除湿器12の上流には大気導入口を設ける。ゼロガスとスパンガスを乾燥状態で測定し、大気導入口から導入された大気をサンプルと同じ水分濃度にして測定したときの測定値を水分干渉値として、サンプルガスを測定したときの測定値から引き算して水分干渉補正を行ない、その補正後の測定結果に検量線データを適用して目的ガス成分を算出する。

Claim (excerpt)：

目的ガス成分を検出する検出部と、サンプルガスの水分濃度を一定にする定湿装置を介して前記検出部に導くサンプルガス導入流路と、目的ガス成分を含まないゼロガスと一定濃度の目的ガス成分を含むスパンガスとを切り換えて供給でき、前記サンプルガス導入流路に切換え弁を介して接続された標準ガス導入流路と、標準ガス導入流路からのゼロガスとスパンガスを測定したときの測定値を検量線データとして保持する検量線記憶部を有しその検量線データに基づいてサンプルガス濃度を算出するデータ処理部とを備えた連続ガス分析計において、前記標準ガス導入流路と前記サンプルガス導入流路との接続位置は前記定湿装置と前記検出部との間とし、前記サンプルガス導入流路で前記定湿装置より上流側にサンプルガスと切り換えて大気を導入できる大気導入口を設け、前記データ処理部の検量線記憶部はゼロガスとスパンガスを乾燥状態で測定したときの測定値を検量線データとして保持するものであり、前記データ処理部は前記大気導入口から導入された大気を測定したときの測定値を水分干渉値として、サンプルガスを測定したときの測定値から引き算する水分干渉補正部をさらに備え、前記データ処理部の演算部は水分干渉が補正された測定結果に前記検量線記憶部の検量線データを適用して目的ガス成分を算出するものであることを特徴とする連続ガス分析計。

IPC (2)：

G01N 21/61 ,  G01N 21/27

FI (2)：

G01N 21/61 ,  G01N 21/27 F

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 特開昭64-035348
  
• 分光分析システムの校正方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-339382   Applicant：ヒューレット・パッカード・カンパニー
• 特開昭64-035348