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J-GLOBAL ID：200903022322518519
板波超音波探傷方法及び装置
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
河野 登夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995161176
Publication number (International publication number)：1997015216
Application date： Jun. 27, 1995
Publication date： Jan. 17, 1997
Summary：
【要約】【目的】 2次元探傷画像の欠陥による像を効率的に判定することができる板波超音波探傷方法及びその実施に使用する装置を提供する。【構成】 CPUの第1判定部は、2次元探傷画像における被探傷材のエッジ部から幅方向への欠陥判定の対象とすべき距離である判定距離、及び判定の閾値である欠陥認定レベル曲線を、被探傷材の幅に応じて設定し(ステップS1,2)、被探傷材のエッジ部を検出し、検出したエッジ部から設定した判定距離までにある各像のエッジ部から当該像までの距離及びその信号レベルを検出し(ステップS3)、検出した信号レベルが前述した欠陥認定レベル曲線における像の位置に対応する値を越えるか否かを判断し(ステップS4)、欠陥認定レベル曲線を越えた場合、その像は欠陥である可能性が高いと一次判定し(ステップS5)、欠陥認定レベル曲線を越えない場合、その像は欠陥でないと判定する(ステップS6)。
Claim (excerpt)：
被探傷材及び該被探傷材に対向すべく配した超音波探触子を相対移動させつつ、超音波探触子から超音波を所定周期で送信し、それを板波超音波として移動方向と直交する方向へ伝播させ、各反射波を受信して得た複数の探傷信号の信号レベルに応じた像が形成された2次元探傷画像を得、該2次元探傷画像に基づいて被探傷材の欠陥を探傷する方法において、被探傷材に応じて前記2次元探傷画像における探傷範囲を設定し、該探傷範囲内における位置に応じてその値が異なる部分を有する閾値を設定し、設定した探傷範囲内にある像の信号レベルと前記閾値とを比較し、信号レベルが閾値を越えた像を選択することを特徴とする板波超音波探傷方法。
IPC (3)：
G01N 29/10 501
, G01N 29/22 502
, G06T 7/00
G01N 29/10 501
, G01N 29/22 502
, G06F 15/62 400
