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J-GLOBAL ID：200903022409139344

CTスキャナ

Inventor： 斉藤 泰男 ,  伊平 和史 ,  宮崎 博明
Applicant, Patent owner： 株式会社東芝
Agent (1)： 鈴江 武彦
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994302405
Publication number (International publication number)：1996154926
Application date： Dec. 06, 1994
Publication date： Jun. 18, 1996
Summary：

【要約】【目的】マルチスライスCTに於てプロファイル変動による偽像を防止する。【構成】被検体の断層面に対してその周囲の種々の方向からファンビーム放射線(FB)を放射しその透過放射線強度を測定することにより投影データを得これを再構成演算処理することにより被検体の断層面各位置の情報を得るCTスキャナにおいて、被検体の複数の断層面夫々に対応して検出素子列を複数並べ複数列構成とし透過放射線強度を測定するメイン検出器(MDT)22 と、該 MDTの前記被検体断層面厚み方向配列幅より狭い厚みのFBを放射する放射線源21と、前記被検体断層面厚み方向に対する分解能を持ち MDTに入射する線量の前記厚み方向のプロファイルを測定すると共に被検体を通らないX線パスを検出パスとするプロファイル検出器23と、該プロファイル検出器にて検出されたプロファイル変化対応に MDTの検出データを補正して投影データを得る補正手段24,25,26を備える。

Claim (excerpt)：

被検体の断層面に対してその周囲の種々の方向からファンビーム放射線を放射してその透過放射線強度を測定することにより投影データを得、これを再構成演算処理することにより、前記被検体の断層面各位置の情報を得るCTスキャナにおいて、被検体の複数の断層面にそれぞれ対応して検出素子列を複数並べて2次元配列構成とし、透過放射線強度を測定するメイン検出器と、このメイン検出器の前記被検体断層面厚み方向に対する配列幅より狭い厚みのファンビーム放射線を放射する放射線源と、前記被検体断層面厚み方向に対する分解能を持ち、メイン検出器に入射する線量の前記厚み方向のプロファイルを測定するプロファイル検出器と、このプロファイル検出器にて検出されたプロファイルの変化対応に前記メイン検出器の検出データについて補正して投影データを得る補正手段とを備えてなるCTスキャナ。

IPC (2)：

A61B 6/03 320 ,  A61B 6/03 350

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

• X線コンピュータトモグラフィ装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-325159   Applicant：株式会社東芝