X線応力測定方法及びその装置

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：横川邦明
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995149677
Publication number (International publication number)：1996320264
Application date： May. 24, 1995
Publication date： Dec. 03, 1996
Summary：

【要約】【目的】測定対象物のψ角の一点測定のみで残留応力を測定できるX線応力測定方法及び装置を提供する。【構成】金属材料の残留応力をsin2ψ -2θ線図を用いて測定する方法において、内部応力が既知である標準試料について予め標準の1点Oのsin2 ψ及び2θを測定して求めておく。被測定試料については1点Qの測定でsin2ψ及び2θを求める。以上の2点により、sin2ψ -2θ線Lが決定され、この直線Lの傾斜から試料の内部応力が求められる。

Claim (excerpt)：

X線源から放射されたX線を一定の入射角度で試料へ入射し、試料で回折する回折X線をX線検出器で検出し、その検出結果に基づいてsin2 ψ-2θ線図における傾き量を求め、その傾き量に基づいて試料の内部応力を求めるX線応力測定方法において、標準試料について予め標準の1点のsin2 ψ及び2θを測定して求めておき、被測定試料については1点のみのsin2 ψ及び2θを測定することを特徴とするX線応力測定方法。

IPC (3)：

G01L 1/00 , G01L 1/25 , G01N 23/207

FI (3)：

G01L 1/00 B , G01L 1/25 , G01N 23/207

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

特開平3-154834
微小領域応力測定のためのX線露光方法及び装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平5-124648 Applicant：新日本製鐵株式会社

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