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J-GLOBAL ID:200903023381909072
X線撮影装置
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2002293404
Publication number (International publication number):2004121718
Application date: Oct. 07, 2002
Publication date: Apr. 22, 2004
Summary:
【課題】半導体素子を用いた平面型X線検出器の暗電流を適宜補正して高画質の画像が得られるX線撮影装置を提供する。【解決手段】半導体素子を用いた平面型X線検出器の暗電流を検出し、この検出した信号を用いて出力信号を補正する暗電流補正手段を備えたX線撮影装置に、暗電流を補正する指令を入力する暗電流補正指令入力手段と、暗電流値の変化分を検出する暗電流変化値検出手段と、前記暗電流の変化値が所定値を越えたときに暗電流の補正が必要であることを判断する暗電流補正判断手段と、この暗電流補正判断手段から暗電流の補正が必要であることを報知する暗電流補正報知手段とを設けた。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
被検体へX線を照射するX線照射手段と、前記被検体を透過したX線信号を検出しこれを電気信号に変換する半導体素子を用いた平面型X線検出手段と、このX線検出手段の暗電流を検出する暗電流検出手段と、この暗電流検出手段で検出した信号を用いて前記X線検出手段の出力信号を補正する暗電流補正手段と、この暗電流補正手段で補正した信号を入力して画像処理を施し前記被検体のX線透過画像を生成する画像処理手段と、この画像処理手段で生成された画像を表示する表示手段とを備えたX線撮影装置であって、前記X線検出手段の暗電流を補正する指令を入力する暗電流補正指令入力手段と、前記X線検出手段の暗電流値の変化分を検出する暗電流変化値検出手段と、前記暗電流の変化値が所定値を越えたときに暗電流の補正が必要であることを判断する暗電流補正判断手段と、この暗電流補正判断手段から暗電流の補正が必要であることを報知する暗電流補正報知手段とを備えたことを特徴とするX線撮影装置。
IPC (2):
FI (3):
A61B6/00 320Z
, A61B6/00 300S
, G01T1/24
F-Term (17):
2G088FF02
, 2G088GG21
, 2G088JJ05
, 2G088LL17
, 4C093AA01
, 4C093EB13
, 4C093EB17
, 4C093EE01
, 4C093FA32
, 4C093FA42
, 4C093FA52
, 4C093FB12
, 4C093FC19
, 4C093FD09
, 4C093FG12
, 4C093FG14
, 4C093FG16
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (5)
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X線撮像装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-356391
Applicant:株式会社日立メディコ
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放射線検出システム
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-281105
Applicant:株式会社東芝
-
CRシステムにおける読み取りデータの処理方法及び装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-174257
Applicant:横河メディカルシステム株式会社
-
形状変化を検出する差分画像の補正法と装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-389974
Applicant:三菱スペース・ソフトウエア株式会社
-
X線透視撮影装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-039852
Applicant:株式会社日立メディコ
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