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J-GLOBAL ID：200903023387357403

自動分析装置およびその支援システム

Inventor： 三村 智憲 ,  三巻 弘 ,  坂詰 卓 ,  川瀬 一光 ,  高橋 敦
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所
Agent (1)： 富田 和子
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998097754
Publication number (International publication number)：1998339732
Application date： Apr. 09, 1998
Publication date： Dec. 22, 1998
Summary：

【要約】【課題】 複数の分析ユニットのそれぞれにキャリブレーション又は精度管理を行う必要が発生したことを容易にオペレータに知らせることができ、的確にキャリブレーション又は精度管理を各分析ユニットに実行させることができる自動分析装置およびその支援システムを提供。【解決手段】 自動分析装置は、分析項目が割り当てられた複数の分析ユニット(3A〜3G)を有する。キャリブレーション又は精度管理を行う必要性が発生すると、状態点検画像面上の複数の表示ブロック(401〜404、501〜503)の内の発生原因に関係する表示ブロックが点滅する。その点滅表示ブロックに対応する受付ボタン(405〜408、505〜507)が指示されると、関係する分析項目名及び分析ユニット名が表示領域(410,510)に表示され、キャリブレーション又は精度管理が実行される。

Claim (excerpt)：

それぞれの分析ユニットにて分析対象を測定する複数の分析ユニットが検体ラックを搬送するための搬送ラインに沿って配置された自動分析装置に対して適用される自動分析装置支援システムにおいて、キャリブレーション又は精度管理の状態点検画面の表示要求手段と、該表示要求に伴って、キャリブレーション又は精度管理に関連する複数状態の分類に対応して設けられた複数の分類見出し、及び各分類見出しに対応した詳細情報の表示を指示するための指示ボタン、を有する状態点検画面を出現せしめる画面表示手段と、上記指示ボタンによる指示があったときに、該当する状態の分析項目名、及び該分析項目のキャリブレーション又は精度管理を実行すべき分析ユニット名、を上記状態点検画面上に表示せしめるように制御する制御手段と、を備えたことを特徴とする自動分析装置支援システム。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (5)

• 自動分析装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-154422   Applicant：株式会社東芝
• 特開昭61-038464
  
• 容器搬送システム
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-257508   Applicant：株式会社ニッテク
• 自動分析装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平7-059375   Applicant：株式会社日立製作所
• 特開平4-065676