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J-GLOBAL ID：200903042909197465

自動分析装置

Inventor：
中里 俊章

About 中里 俊章


Applicant, Patent owner：
株式会社東芝

About 株式会社東芝


Agent (1)： 三好 秀和 (外3名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996154422
Publication number (International publication number)：1998002902
Application date： Jun. 14, 1996
Publication date： Jan. 06, 1998
Summary：
【要約】【課題】 本発明は、複数の情報を同時に確認することができ、オペレータに掛かる負担が軽減し、試料の分析を効率良く行うことができる自動分析装置を提供することを目的とする。【解決手段】 測定試料の分析項目および当該分析項目に関する情報を1つの画面上に少なくとも2つ表示させる情報表示管理機能部21と、前記分析項目を変更する項目変更機能部23と、前記画面上に表示される情報を、前記項目変更手段により変更された分析項目に対応するように変更する情報変更手段とを備えて構成される。
Claim (excerpt)：
測定試料の分析項目および当該分析項目に関する情報を、1つの画面上に少なくとも2つ表示させる情報表示管理手段と、前記分析項目を変更する項目変更手段と、前記画面上に表示される情報を、前記項目変更手段により変更された分析項目に対応するように変更する情報変更手段と、を有することを特徴とする自動分析装置。
FI (2)：
G01N 35/00 E ,  G01N 35/00 A
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (8)
  • 自動分析装置および表示方法
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平7-227723   Applicant：株式会社日立製作所
  • 特開昭57-082769
  • 特開平4-065676
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