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J-GLOBAL ID：200903023960515060

X線検査装置

Inventor： 嶌田 征浩 ,  株本 隆司 ,  太田 道男 ,  広瀬 修
Applicant, Patent owner： 株式会社イシダ
Agent (1)： 小野 由己男 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000343175
Publication number (International publication number)：2002148212
Application date： Nov. 10, 2000
Publication date： May. 22, 2002
Summary：

【要約】【課題】 早く簡便に基準パラメータの設定を行うことのできるX線検査装置を提供する。【解決手段】 X線検査装置10は、物品を搬送させながらX線を使用して物品の検査を行う装置であって、物品を搬送するコンベアと、X線照射器13と、X線ラインセンサ14と、制御コンピュータ20とを備えている。制御コンピュータ20は、X線画像作成制御、物品不良判定制御、自動パラメータ設定制御を行う。X線画像作成制御では、X線を使用して物品のX線画像データを作成する。物品不良判定制御では、X線画像データから物品不良の判定を行う。自動パラメータ設定制御では、通常運転の前に、予め検査対象となる物品をコンベアによって搬送させて、画像処理パラメータを自動的に設定する。

Claim (excerpt)：

物品を搬送させながらX線を使用して物品の検査を行うX線検査装置であって、物品を搬送する搬送機構と、前記X線を物品に照射するX線源と、前記X線を検出するX線ラインセンサと、前記X線ラインセンサによる検出結果に基づき物品の画像データを作成する画像作成手段と、前記画像データを基に検査の判定を行う判定手段と、通常運転の前に、予め検査対象となる物品を前記搬送機構によって搬送させて、前記X線の強弱度あるいは前記判定手段が用いる基準パラメータを自動的に設定する自動設定手段と、を備えたX線検査装置。

F-Term (18)：

2G001AA01 ,  2G001BA11 ,  2G001CA01 ,  2G001DA08 ,  2G001FA01 ,  2G001FA06 ,  2G001GA01 ,  2G001HA01 ,  2G001HA13 ,  2G001JA09 ,  2G001JA11 ,  2G001JA13 ,  2G001JA16 ,  2G001KA03 ,  2G001LA01 ,  2G001PA11 ,  2G001SA04 ,  2G001SA14

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 制御対象モデル構築方法および制御対象応答範囲表示方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平10-320123   Applicant：株式会社日立製作所
• 錠剤検査装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平11-237049   Applicant：株式会社湯山製作所

Article cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

• “Development of a remotely accessible integrated circuit test facility based on telepresence”