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J-GLOBAL ID：200903024233361102

波長計測装置

Inventor：
平山 紀友

About 平山 紀友

, 
佐野 安一

About 佐野 安一


Applicant, Patent owner：
富士電機株式会社

About 富士電機株式会社


Agent (1)： 森田 雄一
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000309326
Publication number (International publication number)：2002116059
Application date： Oct. 10, 2000
Publication date： Apr. 19, 2002
Summary：
【要約】【課題】 アイソレータ及び光分岐器を使用せずに、光サーキュレータを用いて戻り光が光源側に達しないようにして、部品点数を削減する。【解決手段】 光源1からの光が入射される光ファイバ3に一以上のブラッグ回折格子(FBG)5が形成され、各ブラッグ回折格子5からの反射光の波長を波長検出器9により検出して各ブラッグ回折格子1の位置における温度、歪み等の物理量を測定するようにした波長計測装置に関する。光源1とFBG5との間に光サーキュレータ11を接続し、この光サーキュレータ11により、FBG5からの反射光を含む戻り光を光源1側に透過させずに波長検出器9側へ出射させる。
Claim (excerpt)：
光源からの光が入射される光ファイバに一以上のブラッグ回折格子が形成され、各ブラッグ回折格子からの反射光の波長を波長検出器により検出して各ブラッグ回折格子の位置における物理量を測定するようにした波長計測装置において、前記光源と前記ブラッグ回折格子との間に光サーキュレータを接続し、この光サーキュレータにより、前記ブラッグ回折格子からの反射光を含む戻り光を前記光源側に透過させずに前記波長検出器側へ出射させることを特徴とする波長計測装置。
IPC (6)：
G01D 5/26 ,  G01B 11/16 ,  G01J 5/08 ,  G01J 9/02 ,  G01K 11/12 ,  G01L 1/24
FI (6)：
G01D 5/26 D ,  G01B 11/16 G ,  G01J 5/08 A ,  G01J 9/02 ,  G01K 11/12 F ,  G01L 1/24 A
F-Term (29)：
2F056VF02 ,  2F056VF10 ,  2F056VF11 ,  2F056VF16 ,  2F065AA65 ,  2F065CC23 ,  2F065DD04 ,  2F065FF48 ,  2F065LL02 ,  2F065LL33 ,  2F065LL34 ,  2F065LL42 ,  2F065LL55 ,  2F065UU08 ,  2F103BA43 ,  2F103CA04 ,  2F103EB06 ,  2F103EB11 ,  2F103EC00 ,  2F103EC09 ,  2F103EC14 ,  2F103EC16 ,  2G066BA11 ,  2G066BA18 ,  2G066BA24 ,  2G066BA38 ,  2G066BA60 ,  2G066BB02 ,  2G066CA01
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (3)

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