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J-GLOBAL ID：200903024286181386

画像測定装置

Inventor： 吉田 匠 ,  高地 伸夫 ,  千田 益護 ,  伊藤 忠之
Applicant, Patent owner： 株式会社トプコン
Agent (1)： 田辺 徹
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997147064
Publication number (International publication number)：1998320560
Application date： May. 22, 1997
Publication date： Dec. 04, 1998
Summary：

【要約】【課題】 相関計算法の成功率を向上させる。【解決手段】 一対のステレオ画像に基準画像と捜索画像を定め、基準画像に基準データブロックを設定し、捜索画像に捜索データブロックを設けるデータ設定部と、基準データブロックと捜索データブロックとの対応関係を判別する対応判別部と、上記基準データブロックのデータの画像倍率を、捜索画像中の捜索データの画像倍率に応じて変更するデータ倍率変更部と、対応判別部の出力に応じて画像測定を行う画像測定部とからなり、上記対応判別部は、倍率変更部で倍率変更された基準データブロックと捜索データブロックとを用いて対応関係を判別するように構成したことを特徴とする画像測定装置。

Claim (excerpt)：

一対のステレオ画像に基準画像と捜索画像を定め、基準画像に基準データブロックを設定し、捜索画像に捜索データブロックを設けるデータ設定部と、基準データブロックと捜索データブロックとの対応関係を判別する対応判別部と、上記基準データブロックのデータの画像倍率を、捜索画像中の捜索データの画像倍率に応じて変更するデータ倍率変更部と、対応判別部の出力に応じて画像測定を行う画像測定部とからなり、上記対応判別部は、倍率変更部で倍率変更された基準データブロックと捜索データブロックとを用いて対応関係を判別するように構成したことを特徴とする画像測定装置。

IPC (3)：

G06T 7/00 ,  G01B 11/00 ,  G06T 15/00

FI (4)：

G06F 15/62 415 ,  G01B 11/00 H ,  G06F 15/62 350 V ,  G06F 15/70 460 A

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 特開平1-191013
  
• 特開昭62-134773
  
• 対応点抽出装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-135495   Applicant：キヤノン株式会社