組成分析

Inventor： , , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (3)：伊東忠彦 , 大貫進介 , 伊東忠重
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：2002557990
Publication number (International publication number)：2004529321
Application date： Jan. 16, 2002
Publication date： Sep. 24, 2004
Summary：

分析装置、特に分光分析装置は、励起ビームを放射して励起期間中ターゲット領域を励起する励起システムを備える。分析装置は、さらに、監視ビームを放射して監視期間中ターゲット領域を画像化する監視システムが備える。ターゲット領域の監視が励起期間中に維持されるよう、監視期間と励起期間は実質的に重複される。分析装置は、さらに、励起システムを制御してターゲット領域に励起ビームを向けるトラッキングシステムを備える。

Claim (excerpt)：

励起ビームを放射して励起期間中ターゲット領域を励起する励起システム; 監視ビームを放射して監視期間中前記ターゲット領域を画像化する監視システム; 前記励起システムを制御して、前記ターゲット領域に前記励起ビームを向けるトラッキングシステム; からなる分析装置、特に分光分析装置であって、前記監視期間と前記励起期間は実質的に重複することを特徴とする分析装置。

IPC (3)：

G01N21/65 , A61B5/15 , A61B10/00

FI (3)：

G01N21/65 , A61B10/00 E , A61B5/14 300Z

F-Term (20)：

2G043BA16 , 2G043EA03 , 2G043FA01 , 2G043FA02 , 2G043GA01 , 2G043GB01 , 2G043HA01 , 2G043HA02 , 2G043HA07 , 2G043HA08 , 2G043HA09 , 2G043JA02 , 2G043KA01 , 2G043KA02 , 2G043KA03 , 2G043KA05 , 2G043KA09 , 2G043LA01 , 2G043LA03 , 4C038TA10

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

レーザ走査型顕微鏡
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平9-283210 Applicant：オリンパス光学工業株式会社
レーザ走査型顕微鏡及びレーザ走査光学系の調整方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平10-057341 Applicant：株式会社ニコン
毛管内容物のラマン散乱を使用する自動化される光学アラインメント装置及び方法
Gazette classification：公表公報 Application number：特願平8-528607 Applicant：ベックマンインスツルメンツインコーポレーテッド

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