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J-GLOBAL ID：200903024880668422

粒子検出装置

Inventor：
松田 朋信

About 松田 朋信


Applicant, Patent owner：
リオン株式会社

About リオン株式会社


Agent (2)： 小山 有 ,  稲元 富保
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2003352133
Publication number (International publication number)：2005114664
Application date： Oct. 10, 2003
Publication date： Apr. 28, 2005
Summary：
【課題】 高濃度の微粒子濃度を短時間で簡便に測定することができる粒子検出装置を提供する。【解決手段】 浮遊粒子の粒子濃度を測定する粒子検出装置であって、粒子を浮遊させた状態で、ある大きさの範囲の粒子を取り出す分級器1と、この分級器1により取り出され、粒子検出領域に導かれた複数の粒子に同時に光を照射してそれらの粒子が発する散乱光を検出する粒子検出部2と、この粒子検出部2の出力信号から粒子濃度を求める演算処理部3からなる。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
浮遊粒子の粒子濃度を測定する粒子検出装置であって、粒子を浮遊させた状態で、ある大きさの範囲の粒子を取り出す分級器と、この分級器により取り出され、粒子検出領域に導かれた複数の粒子に同時に光を照射してそれらの粒子が発する散乱光を検出する粒子検出部と、この粒子検出部の出力信号から粒子濃度を求める演算処理部からなることを特徴とする粒子検出装置。
IPC (2)：
G01N15/02 ,  G01N15/06
FI (3)：
G01N15/02 F ,  G01N15/02 A ,  G01N15/06 D
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (1) Cited by examiner (7)
  • 粉塵濃度計
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願2000-390688   Applicant：株式会社大林組, 株式会社谷沢製作所
  • 特開平2-275342
  • 特開平2-167444
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