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J-GLOBAL ID：200903024989597312

被検出物の変異部検出方法及びその変異部検出装置

Inventor：
近藤 直

About 近藤 直


Applicant, Patent owner：
石井工業株式会社

About 石井工業株式会社


Agent (1)： 永田 良昭
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000356014
Publication number (International publication number)：2002162358
Application date： Nov. 22, 2000
Publication date： Jun. 07, 2002
Summary：
【要約】【課題】被検出物を傷付けたり、品質を損なうことなく、被検出物の所定項目を正確且つ確実に検出することができる被検出物の変異部検出方法及びその変異部検出装置を提供する。【解決手段】投光装置11から投光される検出光BをミカンAに照射して、ミカンAを透過した透過光Cを受光装置12で受光する。CPU20は、受光装置12が出力する検出情報と、比較情報記憶装置25に記憶した比較情報とを比較して、ミカンAの果皮や内部に、変質部Aa(腐敗)や変色、損傷等の変異部分があるか否かと、その変異部分の進行具合とを判定する。その判定に基づいて、変質無し及び変質する前のミカンAは、検出情報に基づいて項目別に仕分け処理する。変質Aaが進行中及び変質Aaが進んだミカンAは、規格外として廃棄処理又は回収処理する。
Claim (excerpt)：
被検出物を透過する検出光を該被検出物に照射し、該被検出物を透過した透過光の検出情報と、予め設定した比較情報とを比較して被検出物に変異部分があるか否かを検出する被検出物の変異部検出方法。
IPC (3)：
G01N 21/85 ,  G01N 21/27 ,  G01N 21/35
FI (4)：
G01N 21/85 A ,  G01N 21/27 Z ,  G01N 21/27 A ,  G01N 21/35 Z
F-Term (35)：
2G051AA05 ,  2G051AB02 ,  2G051AB20 ,  2G051BA01 ,  2G051BA06 ,  2G051BA20 ,  2G051CA03 ,  2G051CA04 ,  2G051CB02 ,  2G051DA01 ,  2G051DA06 ,  2G051DA13 ,  2G051EA12 ,  2G051EA14 ,  2G051EB01 ,  2G051EB02 ,  2G051EC03 ,  2G051FA10 ,  2G059AA05 ,  2G059BB11 ,  2G059DD12 ,  2G059EE01 ,  2G059GG03 ,  2G059GG10 ,  2G059HH01 ,  2G059HH02 ,  2G059HH06 ,  2G059JJ01 ,  2G059KK01 ,  2G059KK04 ,  2G059MM03 ,  2G059MM05 ,  2G059MM09 ,  2G059MM10 ,  2G059PP04
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (4)
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