Pat
J-GLOBAL ID：200903094223799183

果実の浮き皮判定方法およびその装置

Inventor：
戸井田 秀基

About 戸井田 秀基


Applicant, Patent owner：
株式会社テクノイシイ

About 株式会社テクノイシイ


Agent (1)： 永田 良昭
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997180576
Publication number (International publication number)：1998170456
Application date： Jun. 19, 1997
Publication date： Jun. 26, 1998
Summary：
【要約】【課題】この発明は、機械的な判定ができて、正確で安定した判定結果が得られ、従来の人による判定に要した熟練や労力を皆無となし、判定時間も短縮することかできる果実の浮き皮判定方法およびその装置の提供を目的とする。【解決手段】この発明は、果実にX線や赤外線などの電磁波を照射する電磁波照射手段と、果実を透過した電磁波を受光してその検出パターンを出力する電磁波受光手段と、浮き皮を判定するために比較パターンを記憶する記憶手段と、前記電磁波受光手段が出力する検出パターンと記憶手段から読出した比較パターンとを比較して浮き皮の有無を判定する判定手段とを備え、果実にX線や赤外線などの電磁波を照射し、果実を透過した電磁波の検出パターンを比較パターンと比較して果実の浮き皮の有無を判定する果実の浮き皮判定方法およびその装置であることを特徴とする。
Claim (excerpt)：
果実を透過する電磁波を果実に照射し、果実を透過した電磁波の検出パターンを比較パターンと比較して果実の浮き皮の有無を判定する果実の浮き皮判定方法。
IPC (5)：
G01N 23/18 ,  G01N 21/17 ,  G01N 21/59 ,  G01N 21/85 ,  G01N 23/06
FI (5)：
G01N 23/18 ,  G01N 21/17 A ,  G01N 21/59 Z ,  G01N 21/85 A ,  G01N 23/06
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (10)
  • 特開平3-235041
  • 特開昭63-293450
  • 特開昭63-293450
Show all
Article cited by the Patent：
Cited by examiner (1)

Return to Previous Page

TOP

BOTTOM