Pat
J-GLOBAL ID:200903025253727282
気泡検査装置
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
丸山 隆夫
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2001120283
Publication number (International publication number):2002310939
Application date: Apr. 18, 2001
Publication date: Oct. 23, 2002
Summary:
【要約】【課題】 透明物体や半透明物体などの被検査物内の気泡を撮像する気泡検査装置において、撮像画像のコントラストを改善し、安定的で正確に気泡や不純物の有無や形状を検査できる気泡検査装置を提供する。【解決手段】 被検査体の上方から撮像し画像データを作成する撮像手段と、被検査体に上方斜め方向から光を照射する第1の照明手段と、撮像手段と同軸方向から光を照射する第2の照明手段と、画像データを保存する画像メモリと画像メモリの画像を処理する画像処理回路を有する画像処理手段とを有し、撮像手段は、第1の照明手段により照明された被検査体を撮像して第1の画像データを作成し、第2の照明手段により照明された被検査体を撮影して第2の画像データを作成し、画像処理回路は、第1の画像データおよび第2の画像データを用いて画像データ内の特徴部を抽出することで、気泡検査を行う。
Claim (excerpt):
被検査体を撮像し画像データを作成する撮像手段と、当該撮像手段の光軸と被検査体とが交わる点を通り当該光軸に垂直な平面を基準として撮像手段が設けられた側に設けられ、前記光軸と一致する関係または平行の関係にない照射方向で被検査体を照射する第1の照明手段と、前記平面を基準として撮像手段が設けられた側に設けられ、前記光軸と略同一方向または略平行する照射方向で被検査体を照射する第2の照明手段と、前記画像データを保存する画像メモリと当該画像メモリの画像を処理する画像処理回路を有する画像処理手段とを有し、前記撮像手段は、前記第1の照明手段により照明された被検査体を撮像して第1の画像データを作成し、前記第2の照明手段により照明された被検査体を撮影して第2の画像データを作成し、前記画像処理回路は、前記第1の画像データおよび第2の画像データを用いて画像データ内の特徴部を抽出することで気泡検査を行うことを特徴とする気泡検査装置。
IPC (5):
G01N 21/958
, G01B 11/24
, G06T 1/00 300
, G06T 7/00 200
, G06T 7/60 250
FI (5):
G01N 21/958
, G06T 1/00 300
, G06T 7/00 200 B
, G06T 7/60 250 A
, G01B 11/24 K
F-Term (53):
2F065AA49
, 2F065BB22
, 2F065FF04
, 2F065HH12
, 2F065HH13
, 2F065JJ03
, 2F065JJ09
, 2F065QQ24
, 2F065QQ31
, 2F065UU05
, 2G051AA42
, 2G051AA84
, 2G051AA90
, 2G051AB06
, 2G051AB20
, 2G051BA01
, 2G051BA10
, 2G051BA20
, 2G051CA03
, 2G051CA04
, 2G051CB01
, 2G051EA11
, 2G051EA14
, 2G051EB01
, 2G051EB02
, 2G051EC02
, 2G051EC03
, 2G051ED11
, 5B057AA01
, 5B057BA02
, 5B057CA02
, 5B057CA08
, 5B057CA12
, 5B057CA16
, 5B057CB18
, 5B057CC01
, 5B057CH08
, 5B057DA03
, 5B057DA15
, 5B057DB02
, 5B057DB05
, 5B057DB09
, 5B057DC32
, 5B057DC36
, 5L096AA03
, 5L096AA06
, 5L096BA03
, 5L096CA02
, 5L096DA03
, 5L096FA37
, 5L096GA08
, 5L096GA51
, 5L096JA11
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (15)
-
特開平4-359106
-
特開昭56-030724
-
表面検査装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-341505
Applicant:株式会社ニデック
-
ロール状フィルムの欠陥検出装置及び欠陥検出方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-212812
Applicant:三菱化学株式会社
-
ロール状フィルムの欠陥検出方法及び欠陥検出装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-212814
Applicant:三菱化学株式会社
-
校正用被検査物およびその製造方法ならびに検査装置の校正方法および検査装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-280159
Applicant:株式会社日立製作所, 日立電子エンジニアリング株式会社
-
検査方法及び検査装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-319331
Applicant:オムロン株式会社
-
表面欠陥検査装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-222680
Applicant:大分日本電気株式会社
-
特開平4-359106
-
特開昭56-030724
-
特開昭61-223539
-
金属表面検査方法及び装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-189938
Applicant:大日本印刷株式会社
-
ガラスマスタ表面インスペクタ
Gazette classification:公表公報
Application number:特願平10-512427
Applicant:ウェア・マニュファクチャリング,インコーポレイテッド
-
画像処理装置および画像処理方法、記録媒体、並びにプログラム
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-115636
Applicant:ソニー株式会社
-
ロール状フィルムの欠陥検出装置及び欠陥検出方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-212813
Applicant:三菱化学株式会社
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