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J-GLOBAL ID：200903025334017026

アナログ/デジタル変換器テスト方法、及びその回路

Inventor： 千田 浩之 ,  熊澤 町也
Applicant, Patent owner： 松下電器産業株式会社
Agent (1)： 早瀬 憲一
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002310123
Publication number (International publication number)：2004147115
Application date： Oct. 24, 2002
Publication date： May. 20, 2004
Summary：

【課題】アナログ/デジタル変換器のDC成分に起因する不具合を検出することができるアナログ/デジタル変換器テスト回路を提供する。【解決手段】信号発生器1にて発生した矩形波信号s1をADC3へ入力してA/D変換後、A/D変換信号s2をDCC5へ入力し、DCC5において、A/D変換信号s2からDC成分4を検出し、該DC成分4を試験装置8へ入力して、試験装置8にてDC成分4と、期待値とが一致するかどうか検査し、一致する場合は合格(PASS)とし、一致しない場合は不合格(FAIL)とする。【選択図】 図1

Claim (excerpt)：

入力信号をアナログ/デジタル変換し、アナログ/デジタル変換信号を出力するアナログ/デジタル変換ステップと、 上記アナログ/デジタル変換信号からそのDC成分を検出するDC成分検出ステップと、 上記検出したDC成分を検査する検査ステップと、を有する、 ことを特徴とするアナログ/デジタル変換器テスト方法。

IPC (1)：

H03M1/10

FI (1)：

H03M1/10 C

F-Term (4)：

5J022AA01 ,  5J022AC04 ,  5J022BA03 ,  5J022BA04

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• A/D変換回路
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平3-314025   Applicant：日本電気株式会社
• 特開昭60-197016
  
• 端面反射縦結合型SAW共振子フィルタ
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平11-037165   Applicant：株式会社村田製作所