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J-GLOBAL ID：200903025534580418

簡便な検出法、検出装置及び検出キットとその製法

Inventor：
滝沢 和幸

About 滝沢 和幸

, 
志田 亮

About 志田 亮


Applicant, Patent owner：
デンカ生研株式会社

About デンカ生研株式会社


Agent (4)： 平木 祐輔 ,  石井 貞次 ,  藤田 節 ,  田中 夏夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004018886
Publication number (International publication number)：2005214670
Application date： Jan. 27, 2004
Publication date： Aug. 11, 2005
Summary：
【課題】 不純物除去等の被分析物質を含む検体の処理過程において効率良く標識試薬と被分析物質とを反応させることにより迅速に検出できる、簡便且つ感度・特異性に優れた検出法、検出装置及び検出キットの提供。【解決手段】 検体中の被分析物質を検出する方法であって、被分析物質に特異的に結合するリガンドを含む標識試薬と検体とを接触させる工程および検体と標識試薬との混合物を、前記被分析物質に特異的に結合する捕捉試薬を固定化した固相支持体に供給する工程を含み、検体と標識試薬を接触させる工程が、前記固相支持体部および前記固相支持体部と接触している部位以外で行われる、前記被分析物質を検出する方法、ならびに検体中の被分析物質に特異的に結合する捕捉試薬を固定化した固相支持体を含む検出装置及び被分析物質に特異的に結合するリガンドを含む標識試薬を含む検体添加用デバイスを含む、検体中の被分析物質検出用キット。【選択図】 なし
Claim (excerpt)：
検体中の被分析物質を検出する方法であって、被分析物質に特異的に結合するリガンドを含む標識試薬と検体とを接触させる工程および検体と標識試薬との混合物を、前記被分析物質に特異的に結合する捕捉試薬を固定化した固相支持体に供給する工程を含み、検体と標識試薬を接触させる工程が、前記固相支持体と分離した部位で行われる、前記被分析物質を検出する方法。
IPC (3)：
G01N33/543 ,  G01N21/78 ,  G01N33/53
FI (4)：
G01N33/543 521 ,  G01N21/78 C ,  G01N33/53 D ,  G01N33/53 N
F-Term (11)：
2G054AA06 ,  2G054AB04 ,  2G054BA01 ,  2G054BB02 ,  2G054CA21 ,  2G054EA03 ,  2G054GA04 ,  2G054GB02 ,  2G054GE06 ,  2G054GE07 ,  2G054GE08
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (3)
  • 特公平7-34016号公報
  • 特公平7-13640号公報
  • 特許第2890384号公報
Cited by examiner (3)

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