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J-GLOBAL ID:200903026029567233

オプティカル・コヒーレント・トモグラフィ装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (3): 光石 俊郎 ,  田中 康幸 ,  松元 洋
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2005014650
Publication number (International publication number):2006201087
Application date: Jan. 21, 2005
Publication date: Aug. 03, 2006
Summary:
【課題】 折り返し像の影響を除去して測定範囲を拡大することができるオプティカル・コヒーレント・トモグラフィー装置を提供する。【解決手段】 第三のカプラ16で合波された出力光の強度から、波数に対して余弦関数となる第一の強度の測定と、波数に対して正弦関数又はその逆符号関数となる第二の強度の測定とを作動アンプ17,18及び演算制御装置21等で可能にさせる光位相変調器14を備え、前記演算制御装置21が、作動アンプ17,18等で測定された光位相変調器14による出力光の第一の強度の集合及び第二の強度の集合に基づくことにより、折り返し像の発生を抑制しつつ、測定対象での測定光の照射方向に対する当該測定光の反射又は後方散乱位置と反射強度又は後方散乱強度とを特定できるようにした。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
可変波長光発生手段と、 前記可変波長光発生手段から出力された光を測定光と参照光とに分波する分波手段と、 前記測定光を測定対象に照射する照射手段と、 前記測定対象によって反射又は後方散乱された信号光を捕捉する捕捉手段と、 前記信号光と前記参照光とを合波する合波手段と、 前記合波手段で合波された出力光の強度を前記可変波長光発生手段の波数毎に測定する測定手段と、 波数毎に測定された前記出力光の強度の集合に基づいて、前記測定対象での前記測定光の照射方向に対する当該測定光の反射又は後方散乱位置と反射強度又は後方散乱強度とを特定する特定手段と を備えるオプティカル・コヒーレント・トモグラフィー装置において、 前記合波手段で合波された前記出力光の強度から、前記波数に対して余弦関数となる第一の強度の測定と、前記波数に対して正弦関数又はその逆符号関数となる第二の強度の測定とを前記測定手段で可能にさせる位相シフト手段を備え、 前記特定手段が、前記測定手段で測定された前記位相シフト手段による前記出力光の前記第一の強度の集合及び前記第二の強度の集合に基づくことにより、折り返し像の発生を抑制しつつ、前記測定対象での前記測定光の照射方向に対する当該測定光の反射又は後方散乱位置と反射強度又は後方散乱強度とを特定するものである ことを特徴とするオプティカル・コヒーレント・トモグラフィー装置。
IPC (1):
G01N 21/17
FI (2):
G01N21/17 625 ,  G01N21/17 630
F-Term (15):
2G059AA05 ,  2G059BB10 ,  2G059BB12 ,  2G059EE02 ,  2G059EE09 ,  2G059EE11 ,  2G059FF02 ,  2G059FF03 ,  2G059GG01 ,  2G059GG09 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ15 ,  2G059JJ22 ,  2G059MM01 ,  2G059MM09

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