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J-GLOBAL ID：200903026074922591

光の透過度、散乱度の簡易測定方法および該簡易測定方法に使用する測定装置

Inventor： 伊達 宗宏
Applicant, Patent owner： 理化学研究所
Agent (1)： 上島 淳一
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993350045
Publication number (International publication number)：1995198598
Application date： Dec. 28, 1993
Publication date： Aug. 01, 1995
Summary：

【要約】【目的】生体組織などの対象物から試料を切り出すことなく非破壊不侵襲により簡便かつ精度よく、生体組織などの対象物の光の透過度、散乱度を測定することができるようにする。【構成】外部より人体10の表面10aに対して光が照射される領域αと光が照射されない領域βとが連続して位置するように光を照射し、光が照射される領域αにおける光強度と光が照射されない領域βにおける光強度とを分離独立して検出して測定し、この測定結果に基づいて人体10の光の透過度、散乱度を求めるようにした。

Claim (excerpt)：

外部より対象物に対して光が照射される領域と光が照射されない領域とが連続して位置するように光を照射し、前記光が照射される領域における光強度と前記光が照射されない領域における光強度とを分離独立して検出して測定し、前記測定結果に基づいて前記対象物の光の透過度、散乱度を求めるようにしたことを特徴とする光の透過度、散乱度の簡易測定方法。

IPC (4)：

G01N 21/27 ,  A61B 10/00 ,  G01N 21/47 ,  A61B 5/14 310

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

• 光断層イメージング装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-062303   Applicant：浜松ホトニクス株式会社

Cited by examiner (1)

• 光断層イメージング装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-062303   Applicant：浜松ホトニクス株式会社