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J-GLOBAL ID：200903026096482439

X線フィルタ、及び蛍光X線分析装置

Inventor： 西勝 英雄 ,  杉山 進 ,  鳥山 寿之 ,  白石 晴樹 ,  早川 慎二郎
Applicant, Patent owner： 関西ティー・エル・オー株式会社
Agent (1)： 渡辺 三彦
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001045974
Publication number (International publication number)：2002243671
Application date： Feb. 22, 2001
Publication date： Aug. 28, 2002
Summary：

【要約】【課題】 容易に微小な厚さ変更を行うことができるX線フィルタ、及び蛍光X線分析装置を提供する。【解決手段】 本蛍光X線分析装置100は、エネルギー分散型の全反射蛍光X線分析装置であって、シンクロトロン(SR)放射源101と、SR放射源101から発生された連続光1を絞るスリット102と、該連続光1を準単色化して試料Sに照射すべきX線2とするシリコン製のX線フィルタ103と、試料Sから発生する蛍光X線3を検出する検出器104とを具備するものである。

Claim (excerpt)：

所定のX線吸収端を有する材質からなるX線フィルタにおいて、X線フィルタのX線透過部の厚さを、段階的に変化させたものであることを特徴とするX線フィルタ。

F-Term (23)：

2G001AA01 ,  2G001AA09 ,  2G001BA04 ,  2G001BA11 ,  2G001BA13 ,  2G001CA01 ,  2G001EA06 ,  2G001EA20 ,  2G001FA09 ,  2G001JA01 ,  2G001JA11 ,  2G001JA14 ,  2G001KA01 ,  2G001LA02 ,  2G001NA04 ,  2G001NA05 ,  2G001NA06 ,  2G001NA07 ,  2G001NA09 ,  2G001NA15 ,  2G001NA16 ,  2G001NA17 ,  2G001RA04

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

• X線検査装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平10-134959   Applicant：松下電器産業株式会社
• 放射線撮像装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平3-328916   Applicant：コニカ株式会社
• 特開昭60-237349
  
• 特開昭60-237349