水分測定方法および水分測定装置および電気機器製造方法

Inventor： , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：高田幸彦 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998314794
Publication number (International publication number)：2000146834
Application date： Nov. 05, 1998
Publication date： May. 26, 2000
Summary：

【要約】【課題】測定部材の水分率を高精度で簡単に測定することができる測定方法および小型の測定装置を得る。【解決手段】波長が異なる2種の単色光を照射用導光体で導いて測定部材の表面に照射し、この測定部材表面からの反射光を受光用導光体を用いて光量測定部に導いて反射光量を測定し、演算部において各波長における反射吸光度(Aλ)を求め、ある波長の反射吸光度と波長1350nm以下の反射吸光度との2波長間の反射吸光度差(ΔAλ)あるいは2波長間の反射吸光度比(Aλ’)を演算し、更に、予め記憶しておいた反射吸光度差あるいは反射吸光度比と水分率との関係から、測定部材の水分率を算出する水分測定方法および装置。

Claim (excerpt)：

反射吸光度が水分に大きく影響される波長と水分の影響が少ない波長を被測定部材の表面に照射してその反射量を測定することにより各波長における反射吸光度を求め、この反射吸光度に基づいて被測定部材の水分率を測定する水分測定方法において、波長が異なる少なくとも2種の単色光を照射用導光体で導いて測定部材の表面に照射し、この測定部材表面からの反射光を受光用導光体を用いて光量測定部に導いて反射光量を測定し、演算部において各波長における反射吸光度(Aλ)を(数1)式を用いて求め、ある波長の反射吸光度と波長1350nm以下の反射吸光度との2波長間の反射吸光度差(ΔAλ)あるいは2波長間の反射吸光度比(Aλ’)を(数2)式または(数3)式を用いて演算し、更に、予め記憶しておいた反射吸光度差あるいは反射吸光度比と水分率との関係を比較演算することにより、測定部材の水分率を算出する水分測定方法。Aλ= -log(Ι / Ι0) (数1)ΔAλ=Aλ1-Aλ2 (ただし、λ1>λ2) (数2)Aλ’=Aλ1/Aλ2 (ただし、λ1>λ2) (数3)ここで、Ι0:標準白板の反射光強度 Ι:被測定物の反射光強度λ2:1350nm以下

F-Term (19)：

2G059AA01 , 2G059BB10 , 2G059CC09 , 2G059EE01 , 2G059EE02 , 2G059EE11 , 2G059FF08 , 2G059GG01 , 2G059GG02 , 2G059HH01 , 2G059HH02 , 2G059JJ12 , 2G059JJ13 , 2G059JJ17 , 2G059KK01 , 2G059MM01 , 2G059MM05 , 2G059MM10 , 2G059PP04

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (7)

電気機器の劣化診断方法及び装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平9-163712 Applicant：株式会社日立製作所
特開平1-129735
含水分測定装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平7-312329 Applicant：株式会社リコー

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