超音波探傷装置

Inventor： , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：光石俊郎 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000034888
Publication number (International publication number)：2001228126
Application date： Feb. 14, 2000
Publication date： Aug. 24, 2001
Summary：

【要約】【課題】欠陥の上下端の回折波を利用して欠陥深さを検出する超音波探傷において大きな振幅の回折波を得ることができる超音波探傷装置を提供する。【解決手段】アレイ構造とした超音波探触子12の集合体で送信側超音波探触部11を構成し、この超音波探触部11の各超音波探触子12が出力する超音波の送出のタイミングを順次遅延させることにより超音波探触部11から送出する超音波ビームBを収束させるとともにスキャニングさせ、受信側も同様の構成として受信側超音波探触部15の各超音波探触子16による超音波の受信のタイミングを送信側超音波探触部11と同期させて順次遅延させることにより送信側超音波探触部11が送出した超音波ビームBを各超音波探触子16で同時に受信するようにしたものである。

Claim (excerpt)：

送信側超音波探触部から送出した超音波を被検体を介して受信側超音波探触部で受信し、この受信した超音波の波形に基づき被検体の内部の欠陥を探傷する超音波探傷装置において、複数の素子を並べてアレイ構造とした超音波探触子の集合体で送信側超音波探触部を構成し、この送信側超音波探触部の各超音波探触子が出力する超音波の送出のタイミングを順次遅延させることにより送信側超音波探触部から送出する超音波ビームを収束させるとともにスキャニングさせることを特徴とする超音波探傷装置。

IPC (2)：

G01N 29/22 501 , G01N 29/24 502

FI (2)：

G01N 29/22 501 , G01N 29/24 502

F-Term (8)：

2G047AA05 , 2G047BB02 , 2G047BC10 , 2G047CA01 , 2G047DB02 , 2G047EA05 , 2G047GB02 , 2G047GB03

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (9)

超音波探傷装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平10-054707 Applicant：株式会社日立製作所, 日立エンジニアリング株式会社
探傷装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平8-336879 Applicant：三菱重工業株式会社
電子走査式超音波検査装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平9-162578 Applicant：日立建機株式会社

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