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J-GLOBAL ID：200903026250154717

イオントラップ質量分光計の操作方法

Inventor：
ブットリル,シドニー・イー

About ブットリル,シドニー・イー


Applicant, Patent owner：
バリアン・メディカル・システムズ・インコーポレイテッド

About バリアン・メディカル・システムズ・インコーポレイテッド


Agent (1)： 竹内 澄夫 (外1名)
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：1998526674
Publication number (International publication number)：2000505937
Application date： Nov. 13, 1997
Publication date： May. 16, 2000
Summary：
【要約】四重極イオントラップを質量分光計として操作する方法であって,その分光計において,検出されるべきイオン質量が,三次元の四重極蓄積の場を調節することにより選択され,その選択された質量のβzを広帯域の補充RF電場から引き出した狭い範囲の周波数の固定した所定のβzに等しくする。イオンは,選択されたイオン質量の量に対応する信号を与えるために,検出される。
Claim (excerpt)：
イオントラップ質量分光計システムを操作する改良方法であって,(a) 前記質量分光計システムの間隔をあけた一対のエンドキャップ電極と,リング電極とによって結合されるトラップ空間内に,無線周波数(RF)成分を有する,三次元四重極蓄積の場を形成する工程,(b) 前記三次元四重極蓄積の場を調節することによって,モニターされるべき単一の質量を有し,質量がパラメータβzの所定の値を有するところのイオンを選択する工程,(c) 前記三次元四重極蓄積の場に複数のサンプルイオンを与える工程,(d) 前記パラメータβzの前記所定の値を有するイオンを除く前記トラップ空間にトラップしたイオンを共振的に放出するために,前記トラップ空間に周波数成分を有する補充電場を与える工程,(e) 前記工程(d)の後,前記トラップ空間にトラップされたイオンを検出する工程,(f) モニターされるべき他の単一の質量を有し,その他の単一の質量のパラメータβzの値が,前記パラメータβzの前記所定の値に等しいところのイオンを選択するため,前記三次元四重極蓄積の場を変化させる工程,および(g) 前記工程(f)の後,前記工程(c)から(e)を繰り返す工程,を含む方法。
IPC (2)：
H01J 49/42 ,  H01J 49/34
FI (2)：
H01J 49/42 ,  H01J 49/34
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (5)
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