Pat
J-GLOBAL ID:200903026700997027

評価装置およびその方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 特許業務法人アイ・ピー・エス
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2003324272
Publication number (International publication number):2004252947
Application date: Sep. 17, 2003
Publication date: Sep. 09, 2004
Summary:
【課題】 組織間で伝達されるメッセージのアンケート調査結果を分析して、組織の価値を客観的に評価する。 【解決手段】 分析・評価装置は、組織の各成員に対してアンケート調査を実行し、このアンケート調査に対する回答から、組織・個人ごとの共通単語など(属性)を抽出する。分析・評価装置は、評価対象となる属性と、組織・個人の共通単語・概念などとを比較し、調査対象となる属性が組織へ影響を与える範囲およびその度合いなどを分析し、組織・個人の評価を行う。さらに、分析・評価装置は、評価対象に対する評価結果に対して統計分析および時系列的な分析を行い、評価結果および分析結果を記憶・出力する。【選択図】 図35
Claim (excerpt):
評価の対象となる複数の単位における活動を評価する評価装置であって、前記活動それぞれは1つ以上の属性を含み、 前記複数の単位に対して、前記複数の単位においてされている活動を問い合わせる問い合わせ手段と、 前記問い合わせに応じて前記複数の単位から返された応答に含まれ、前記活動を示す活動データから、前記複数の単位それぞれにおいて用いられている活動の属性を分析し、前記分析の結果として得られた属性を示す属性データを生成する属性分析手段と、 前記活動データおよび前記属性データに基づいて、前記活動、前記属性および前記単位またはこれらの内の1つ以上の任意の組み合わせの価値を評価する評価手段と を有する評価装置。
IPC (1):
G06F17/60
FI (2):
G06F17/60 150 ,  G06F17/60 174
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (6)
Show all
Cited by examiner (3)

Return to Previous Page