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J-GLOBAL ID：200903026853982878

質量分析システム

Inventor： 横須賀 俊之 ,  平林 集 ,  照井 康 ,  小林 金也 ,  吉成 清美
Applicant, Patent owner： 株式会社日立ハイテクノロジーズ
Agent (2)： 作田 康夫 ,  井上 学
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004047172
Publication number (International publication number)：2005241251
Application date： Feb. 24, 2004
Publication date： Sep. 08, 2005
Summary：

【課題】 現在の質量分析システムでは、物質(特にタンパク質,糖鎖など)を解析する際に、解析に必要な情報が十分かどうか測定中に判定できない。また、質量が全く等しい異性体や、非常に近い質量を持つ化合物をMSデータのみから判定することは困難である。【解決手段】 本発明では、タンパク質を酵素分解した際に生成されるペプチドのLC(またはGC)の保持時間(リテンションタイム) が、MS2マススペクトルデータから予測されるアミノ酸配列から推定される予測保持時間と一致するか否かを計測の実時間内に判定し、MS2 マススペクトルデータの質(情報量)を判定する。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

試料を導入する試料導入部と試料を分離する試料分離部と、前記試料に関する試料分離部での保持時間τに関する情報を測定する質量分析部と、物質と前記試料分離部での前記物質の保持時間τに関する情報を格納する内部データベースと、前記質量分析部で測定された試料分離部での前記物質の保持時間および試料分離部での前記試料分離部で前記内部データベースに格納した保持時間τを用いて前記試料の構造の評価を実測定時間内に行う評価部とを有することを特徴とする質量分析システム。

IPC (3)：

G01N27/62 ,  G01N30/72 ,  G01N30/86

FI (8)：

G01N27/62 X ,  G01N27/62 C ,  G01N27/62 D ,  G01N27/62 M ,  G01N30/72 A ,  G01N30/72 C ,  G01N30/86 G ,  G01N30/86 M

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

• 未知物質の構造解析装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平11-075356   Applicant：株式会社ユービーイー科学分析センター

Cited by examiner (1)

• 特開昭63-111461