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J-GLOBAL ID：200903026868274292

眼科装置

Inventor： 藤枝 正直
Applicant, Patent owner： 株式会社ニデック
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000086475
Publication number (International publication number)：2001269317
Application date： Mar. 27, 2000
Publication date： Oct. 02, 2001
Summary：

【要約】【課題】 異なるタイミングで測定された複数の測定データの位置合わせを可能とし、各測定データの比較や解析等が容易に、また、正確に行うことができる眼科装置を提供すること。【解決手段】 被検眼を2次元的に測定する第1測定手段により得られた第1測定データを入力する第1入力手段と、被検眼を2次元的に測定する第2測定手段により得られた第2測定データを入力する第2入力手段と、前記第1測定手段及び前記第1測定手段の各測定時に得られた前眼部を含む撮像画像に基づいて前記第1測定データ及び前記第2測定データを位置合わせするデータ位置合わせ手段と、を備える。

Claim (excerpt)：

被検眼を2次元的に測定する第1測定手段により得られた第1測定データを入力する第1入力手段と、被検眼を2次元的に測定する第2測定手段により得られた第2測定データを入力する第2入力手段と、前記第1測定手段及び前記第1測定手段の各測定時に得られた前眼部を含む撮像画像に基づいて前記第1測定データ及び前記第2測定データを位置合わせするデータ位置合わせ手段と、を備えることを特徴とする眼科装置。

IPC (6)：

A61B 3/10 ,  A61B 3/09 ,  A61B 19/00 502 ,  A61B 19/00 508 ,  A61F 9/007 ,  G06T 1/00 290

FI (9)：

A61B 3/09 ,  A61B 19/00 502 ,  A61B 19/00 508 ,  G06T 1/00 290 Z ,  A61B 3/10 Z ,  A61B 3/10 M ,  A61B 3/10 H ,  A61B 3/10 W ,  A61F 9/00 570

F-Term (11)：

5B057AA07 ,  5B057BA02 ,  5B057CA08 ,  5B057CA12 ,  5B057CB08 ,  5B057CB13 ,  5B057CC01 ,  5B057CH01 ,  5B057DA07 ,  5B057DB03 ,  5B057DB09

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (3)

• 検眼装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-073666   Applicant：株式会社トプコン
• 眼科測定装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-283281   Applicant：株式会社ニデック
• 眼底視野計
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-169011   Applicant：キヤノン株式会社

Cited by examiner (3)

• 検眼装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-073666   Applicant：株式会社トプコン
• 眼科測定装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-283281   Applicant：株式会社ニデック
• 眼底視野計
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-169011   Applicant：キヤノン株式会社