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J-GLOBAL ID:200903026869402405

ネットリスト作成装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (4): 田澤 博昭 ,  加藤 公延 ,  田澤 英昭 ,  濱田 初音
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2004211844
Publication number (International publication number):2006031542
Application date: Jul. 20, 2004
Publication date: Feb. 02, 2006
Summary:
【課題】 寄生RCの抽出の容易化を図るとともに、回路シミュレーションの解析精度を高める。【解決手段】 トップ階層のブロック内の電源配線及びグランド配線を示すアブストラクトが適用されたレイアウトデータZから配線の寄生RCを抽出し、その抽出結果をネットリストCに適用するとともに、その寄生RCのノードのレイアウトデータ上の座標情報を特定する一方、座標ファイルF1に格納された回路素子の端子のレイアウトデータ上の座標情報と寄生RCのノードのレイアウトデータ上の座標情報とを比較して、その寄生RCの抽出結果が適用されたネットリストEにおける回路素子と寄生RCの接続関係を適正化する。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
LSIのレイアウトデータと回路図データを比較して、電源配線又はグランド配線に接続されている回路素子の端子のレイアウトデータ上の座標情報を特定する座標情報特定手段と、上記LSIのレイアウトデータにおけるトップ階層のブロックがブラックボックス化されているレイアウトデータを作成するとともに、そのレイアウトデータからネットリストを作成するデータ作成手段と、上記LSIのレイアウトデータからトップ階層のブロック内の電源配線及びグランド配線を示すアブストラクトを作成し、そのアブストラクトを上記データ作成手段により作成されたレイアウトデータに適用するアブストラクト適用手段と、上記アブストラクト適用手段によりアブストラクトが適用されたレイアウトデータから配線の寄生抵抗を抽出し、その抽出結果を上記データ作成手段により作成されたネットリストに適用するとともに、その寄生抵抗のノードのレイアウトデータ上の座標情報を特定する寄生抵抗適用手段と、上記座標情報特定手段により特定された回路素子の端子のレイアウトデータ上の座標情報と上記寄生抵抗適用手段により特定された寄生抵抗のノードのレイアウトデータ上の座標情報を比較して、上記寄生抵抗適用手段により寄生抵抗の抽出結果が適用されたネットリストにおける回路素子と寄生抵抗の接続関係を適正化する適正化手段とを備えたネットリスト作成装置。
IPC (2):
G06F 17/50 ,  H01L 21/82
FI (2):
G06F17/50 666L ,  H01L21/82 C
F-Term (12):
5B046AA08 ,  5B046BA03 ,  5F064CC09 ,  5F064CC22 ,  5F064CC23 ,  5F064DD20 ,  5F064EE42 ,  5F064EE43 ,  5F064EE52 ,  5F064HH06 ,  5F064HH09 ,  5F064HH12
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (1)
  • レイアウト検証装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平9-090846   Applicant:三菱電機株式会社

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