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J-GLOBAL ID:200903027171285071

光熱変換分光分析装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 長谷川 芳樹 (外3名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1996301757
Publication number (International publication number):1998142177
Application date: Nov. 13, 1996
Publication date: May. 29, 1998
Summary:
【要約】【課題】 高感度検出が可能な光熱変換分光分析装置を提供する。【解決手段】 励起光源10から出力された励起光Aは、チョッパ11、集光レンズ12およびダイクロイックミラー13を経て、試料30に照射され、これにより、試料30には熱レンズが生じる。検出光源20から出力された検出光Bは、ビームスプリッタ21、集光レンズ23およびダイクロイックミラー22を経て、励起光Aの照射方向とは反対の方向から試料30に照射され、これにより、試料30の熱レンズから信号光Cが発生する。この信号光Cは、ダイクロイックミラー13、集光レンズ40およびフィルタ41を経て、検出器42により検出されて電流信号とされ、アンプ43により電圧信号に変換され、そして、この電圧信号は、ロックインアンプ50により、チョッパ11における励起光Aの変調周期に同期して検波される。
Claim (excerpt):
励起光が試料に照射されて形成される熱レンズに検出光を入射させ、前記検出光が前記熱レンズにより発散または偏向されて出力された信号光に基づいて、前記試料の分光分析を行う光熱変換分光分析装置であって、前記励起光を出力する励起光源と、前記検出光を出力する検出光源と、前記励起光源から出力された前記励起光を前記試料に入射させる励起光照射光学系と、前記励起光の前記試料への入射光路とは異なる入射光路で、前記検出光源から出力された前記検出光を前記試料に入射させる検出光照射光学系と、前記検出光の前記試料への入射に伴って発生する前記信号光を検出する検出器と、を備えることを特徴とする光熱変換分光分析装置。
IPC (2):
G01N 25/16 ,  G01N 21/41
FI (2):
G01N 25/16 C ,  G01N 21/41 Z
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (3)
  • 特許第2539528号
  • フォトサーマルセンサ
    Gazette classification:公表公報   Application number:特願平6-507638   Applicant:フオルシユングスツエントルムカールスルーエゲゼルシヤフトミツトベシユレンクテルハフツング
  • フラッシュフォトリシス用顕微鏡
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平4-329885   Applicant:株式会社ニコン

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