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J-GLOBAL ID:200903027279188064

薄膜トランジスタ

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 船橋 國則
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1994186743
Publication number (International publication number):1996032083
Application date: Jul. 15, 1994
Publication date: Feb. 02, 1996
Summary:
【要約】【目的】 本発明は、ゲート絶縁膜とチャネル領域との界面の表面粗さを小さくすることで、移動度を高めてトランジスタ特性や信頼性の向上を図る。【構成】 ガラス基板11上には金属ゲート電極12が形成され、その表面には陽極酸化で化成される酸化金属膜13が形成されている。さらに酸化金属膜13上にはゲート絶縁膜14が形成され、金属ゲート電極12の上方のゲート絶縁膜14上には多結晶シリコンからなるチャネル領域15が形成されている。チャネル領域15の両側にはソース・ドレイン領域17,18が形成されている。またゲート絶縁膜14は、窒化シリコン膜21と酸化シリコン膜22とを積層したものからなる。
Claim (excerpt):
ガラス基板上に形成した金属ゲート電極と、前記金属ゲート電極の表面に陽極酸化で形成した金属酸化膜と、前記金属酸化膜上に形成したゲート絶縁膜と、前記ゲート絶縁膜上に形成した多結晶シリコンからなるチャネル領域と、前記チャネル領域の両側に形成したソース・ドレイン領域とからなることを特徴とする薄膜トランジスタ。
IPC (5):
H01L 29/786 ,  H01L 21/28 ,  H01L 21/318 ,  H01L 21/3213 ,  H01L 23/14
FI (3):
H01L 29/78 311 G ,  H01L 21/88 C ,  H01L 23/14 M
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (4)
  • 液晶表示装置とその製造方法
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平3-272667   Applicant:株式会社日立製作所
  • 特開平1-276672
  • 特開昭61-171166
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