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J-GLOBAL ID:200903027316984348

眼科装置及び視野データ処理方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2006152838
Publication number (International publication number):2007319408
Application date: May. 31, 2006
Publication date: Dec. 13, 2007
Summary:
【課題】 神経線維の走向を容易に把握することができ、視野データのセクター分割を効率よく行うことのできる眼科装置及び視野データ処理方法を提供すること。【解決手段】 視感度閾値検査により得られる被検者眼の視野データを処理する眼科装置において、前記視野データを表示する表示手段と、該表示手段に表示される視野データに網膜神経線維の走向を表した模式図を重畳して表示させる表示制御手段と、前記表示手段に前記模式図が重畳された状態で表示される視野データ上の視野測定点をいくつかのクラスターにまとめることにより視野を一定のセクターパターンに分割するためのセクター分割手段と、を備えること。【選択図】 図3
Claim (excerpt):
視感度閾値検査により得られる被検者眼の視野データを処理する眼科装置において、 前記視野データを表示する表示手段と、 該表示手段に表示される視野データに網膜神経線維の走向を表した模式図を重畳して表示させる表示制御手段と、 前記表示手段に前記模式図が重畳された状態で表示される視野データ上の視野測定点をいくつかのクラスターにまとめることにより視野を一定のセクターパターンに分割するためのセクター分割手段と、 を備えることを特徴とする眼科装置。
IPC (1):
A61B 3/024
FI (1):
A61B3/02 F
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (4)
  • 視野計
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平4-229370   Applicant:キヤノン株式会社
  • 視野計
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願2003-340141   Applicant:株式会社ニデック
  • 視野計の解析処理装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平9-120891   Applicant:株式会社トプコン
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Cited by examiner (4)
  • 視野計
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願2003-340141   Applicant:株式会社ニデック
  • 視野計の解析処理装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平9-120891   Applicant:株式会社トプコン
  • 視野測定装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平5-229935   Applicant:株式会社トプコン
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Article cited by the Patent:
Cited by applicant (1) Cited by examiner (1)

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