ガス分析装置及びガス分析方法

Inventor： , , , , ,
Applicant, Patent owner： ,
Agent (4)：平木祐輔 , 関谷三男 , 早川康 , 藤井俊二
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2006226731
Publication number (International publication number)：2008051598
Application date： Aug. 23, 2006
Publication date： Mar. 06, 2008
Summary：

【課題】本発明は、センサ部から解析装置に入力される信号数を少なくして解析装置に電送されるデータ量を少なくし、解析装置に入力されるデータ量を低減し、複数箇所にセンサユニットを設置して複数箇所におけるガス中のガス成分濃度をリアルタイムで測定できるガス分析装置を提供することを目的とする。【解決手段】本発明のガス分析方法は、レーザ光を分波器22で計測用レーザ光と参照用レーザ光とに分波し、該計測用レーザ光をガス中を透過させて受光器25で受光し、受光した計測用レーザ光の光強度と前記参照用レーザ光の光強度とからガス中のガス成分によって吸収された吸収スペクトルを把握し、該吸収スペクトルを分析してガス成分濃度を求めるガス分析方法であって、前記計測用レーザ光を光減衰器23を通してガス中に照射し、ガス中を透過した計測用レーザ光の光強度が前記参照用レーザ光の光強度と所定の関係を有するように前記光減衰器を制御する。【選択図】図2

Claim (excerpt)：

レーザ光を分波器で計測用レーザ光と参照用レーザ光とに分波し、該計測用レーザ光をガス中を透過させて受光器で受光し、受光した計測用レーザ光の光強度と前記参照用レーザ光の光強度とからガス中のガス成分によって吸収された吸収スペクトルを把握し、該吸収スペクトルを分析してガス成分濃度を測定するガス分析方法であって、前記計測用レーザ光を光減衰器を通してガス中に照射し、ガス中を透過した計測用レーザ光の光強度が前記参照用レーザ光の光強度と所定の関係を有するように前記光減衰器によって制御することを特徴とするガス分析方法。

IPC (1)：

G01N 21/35

FI (1)：

G01N21/35 Z

F-Term (23)：

2G059AA01 , 2G059AA05 , 2G059BB01 , 2G059CC04 , 2G059CC05 , 2G059CC07 , 2G059CC09 , 2G059CC13 , 2G059DD12 , 2G059EE01 , 2G059EE11 , 2G059FF09 , 2G059FF10 , 2G059GG01 , 2G059GG03 , 2G059GG05 , 2G059GG07 , 2G059HH01 , 2G059HH06 , 2G059JJ13 , 2G059KK01 , 2G059MM05 , 2G059MM09

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

車載型HC測定装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2002-282994 Applicant：株式会社堀場製作所

Cited by examiner (7)

排気ガス分析装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2004-379610 Applicant：トヨタ自動車株式会社, 三菱重工業株式会社
特公平5-077023
特許第2837442号

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