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J-GLOBAL ID：200903027433042744

サブテラヘルツ電磁波を用いた粉粒体中異物検査装置およびその検査方法

Inventor：
阪井 清美

About 阪井 清美


Applicant, Patent owner：
郵政省通信総合研究所長

About 郵政省通信総合研究所長


Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999244160
Publication number (International publication number)：2001066375
Application date： Aug. 31, 1999
Publication date： Mar. 16, 2001
Summary：
【要約】【課題】 プラスチック片や木片あるいはセラミクス等の異物を短時間で検出することができるサブテラヘルツ電磁波を用いた粉粒体中異物検査装置およびその検査方法を提供することを目的とする。【解決手段】 波長600μmから3mm(0.5THz〜100GHz)の電磁波が粉粒体を透過することから、このパルス状あるいは連続したサブテラヘルツ電磁波を被検査物に照射し、その物質による伝播時間の差又は透過率の差を利用して粉粒体中の異物検査を行う。
Claim (excerpt)：
サブテラヘルツ電磁波を用いた粉粒体中異物検査装置であって、波長600μmから3mm(0.5THz〜100GHz)のパルス状電磁波を被検査物に照射する電磁波照射手段と、その透過したパルス状電磁波の空間分布を検出する検出手段と、そのパルス状電磁波の被検査物による伝播時間の差又は振幅の差を取得する信号処理手段と、上記の被検査物による伝播時間の差又は振幅の差を表示する情報処理手段と、を備えたことを特徴とするサブテラヘルツ電磁波を用いた粉粒体中異物検査装置。
IPC (3)：
G01V 3/12 ,  G01N 22/00 ,  G01V 3/11
FI (3)：
G01V 3/12 A ,  G01N 22/00 Z ,  G01V 3/11 C
F-Term (1)：
2G005DA01
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (2)

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