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J-GLOBAL ID：200903027605151249
標準面試料および光学特性測定システム
Inventor：
,
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
久保 幸雄
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004340763
Publication number (International publication number)：2006153498
Application date： Nov. 25, 2004
Publication date： Jun. 15, 2006
Summary：
【課題】白色板などの標準面試料の使い勝手を向上させ、試料と基準データとがばらばらにならないようにすること。【解決手段】測色計に基準データを与えるための標準色試料6であって、測色計5による測色を行って実測データを与えるための試料部51と、試料部51の種類を識別するための識別データ、試料部の光学特性に対応した基準データ、および基準データを取得した日付を示す日付データが記憶された記憶媒体52と、記憶媒体52に記憶されたデータを測色計に送るためのインタフェース手段53と、が一体的に設けられてなる。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
光学特性測定装置に基準データを与えるための標準面試料であって、
前記光学特性測定装置による測定を行って実測データを与えるための試料部と、
前記試料部の種類を識別するための識別データおよび前記試料部の光学特性に対応した基準データが記憶された記憶媒体と、
前記記憶媒体に記憶されたデータを前記光学特性測定装置に送るためのインタフェース手段と、
が一体的に設けられてなる、
ことを特徴とする標準面試料。
IPC (2)：
FI (2)：
F-Term (13)：
2G020DA02
, 2G020DA03
, 2G020DA04
, 2G020DA06
, 2G020DA12
, 2G020DA13
, 2G020DA23
, 2G020DA43
, 2G020DA45
, 5B058CA13
, 5B058CA17
, 5B058KA02
, 5B058YA20
Cited by applicant (1)
Cited by examiner (1)
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ダブルビーム法分光測色器及びその校正方法
Gazette classification：公開公報
Application number：特願2002-324868
Applicant：凸版印刷株式会社
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