Pat
J-GLOBAL ID:200903027632931710

二次電池劣化判定方法、二次電池劣化判定装置、及び電源システム

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 川和 高穂
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2005300333
Publication number (International publication number):2007108063
Application date: Oct. 14, 2005
Publication date: Apr. 26, 2007
Summary:
【課題】二次電池の使用温度による内部インピーダンスまたは内部抵抗の変化を的確に補正し、高い精度で二次電池の劣化状態を判定することが可能な二次電池劣化状態判定方法等を提供する。【解決手段】二次電池劣化判定方法で用いている温度特性関数は、少なくとも1つ以上の指数項と1つの調整パラメータを含むことを特徴としている。内部インピーダンスの温度特性関数に指数項を1つだけ含ませた例(グラフ2)を、測定値(グラフ1)と共に示したもので良い一致を示している。【選択図】図1
Claim (excerpt):
負荷に電力を供給する二次電池の内部インピーダンスまたは内部抵抗に基づいて前記二次電池の劣化状態を判定する二次電池劣化判定方法であって、 少なくとも1つ以上の指数項と1つの調整パラメータを含み、前記内部インピーダンスまたは前記内部抵抗の温度依存性を表す所定の温度特性関数を事前に作成し、 前記二次電池が所定の電流で充電または放電されたときの電流測定値及び電圧測定値をもとに前記内部インピーダンスまたは前記内部抵抗を算出し、 前記二次電池が前記所定の電流で充電または放電されたときの前記二次電池の温度測定値と前記算出された内部インピーダンスまたは内部抵抗とを前記温度特性関数に代入して前記調整パラメータの値を決定し、 前記決定された調整パラメータの値と所定の基準温度とを前記温度特性関数に代入して基準内部インピーダンスまたは基準内部抵抗を算出し、 前記算出された基準内部インピーダンスまたは基準内部抵抗に基づいて前記二次電池の劣化状態を判定することを特徴とする二次電池劣化判定方法。
IPC (3):
G01R 31/36 ,  H01M 10/48 ,  H02J 7/00
FI (3):
G01R31/36 A ,  H01M10/48 P ,  H02J7/00 Y
F-Term (28):
2G016CA03 ,  2G016CB05 ,  2G016CB06 ,  2G016CC01 ,  2G016CC02 ,  2G016CC03 ,  2G016CC04 ,  2G016CC06 ,  2G016CC07 ,  2G016CC09 ,  2G016CC13 ,  2G016CC23 ,  2G016CE00 ,  2G016CF06 ,  5G003AA01 ,  5G003BA01 ,  5G003CA01 ,  5G003CA11 ,  5G003CB01 ,  5G003EA09 ,  5H030AA03 ,  5H030AA04 ,  5H030AS08 ,  5H030BB10 ,  5H030BB26 ,  5H030FF27 ,  5H030FF42 ,  5H030FF44
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (2) Cited by examiner (5)
Show all

Return to Previous Page