Pat
J-GLOBAL ID:200903027662250580
冶金容器の耐火ライニングの磨耗測定
Inventor:
,
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
鈴江 武彦 (外3名)
Gazette classification:公表公報
Application number (International application number):2001540397
Publication number (International publication number):2003515176
Application date: Nov. 28, 2000
Publication date: Apr. 22, 2003
Summary:
【要約】【課題】 冶金容器の耐火ライニングの磨耗測定【解決手段】 電磁放射によって耐火ライニングの磨耗測定をするために冶金容器の位置を同定して測定する方法において、形状と大きさが既知である二次元または三次元の構造物に着目して演算子を定義する。次いで、この構造物の領域で距離値(Rad(m,n))とこれに帰属する測定角(φ(n),θ(m))を求め、最後に、測定された距離値(Rad(m,n))とこれに帰属する測定角(φ(n),θ(m))から画像座標系における演算子をスケーリングするために、画像座標系における演算子の次元及び分解(i:[-imax,imax,Δi],j:[-jmax,jmax,Δj]を考慮した演算子(R(m+j,n+j))の期待値を、測定された極座標(Rad(m,n),φ(m),θ(n))と合わせる。そして、演算子(R(m+i,n+j))の期待値と測定値(Rad(m+i,n+j))との差異から結果値(S(m,n))を生成し、結果値が最小となる位置から、探索されている構造物の位置を決定する。
Claim (excerpt):
電磁放射によって、特に耐火ライニングの磨耗測定をするために、物体、特に冶金容器の位置を同定して測定する方法において、形状と大きさが既知である二次元または三次元の構造物に関する演算子を定義し、次いで、この構造物の範囲内で距離値(Rad(m,n))とこれに帰属する測定角(φ(n),θ(m))を求め、最後に、測定された距離値(Rad(m,n))とこれに帰属する測定角(φ(m),θ(n))から画像座標系における演算子をスケーリングするために、画像座標系における演算子の次元及び分解(i:[-imax,imax,Δi],j:[-jmax,jmax,Δj]を考慮した演算子(R(m+j,n+j))の期待値を、測定された極座標(Rad(m,n),φ(m),θ(n))と合わせ、演算子(R(m+i,n+j))の期待値と測定値(Rad(m+i,n+j))の差異から結果値(S(m,n))を生成し、結果値が最小となる位置から、探索されている構造物の位置を決定する方法。
IPC (5):
G01B 21/00
, B22D 2/00
, F27D 1/00
, F27D 1/16
, G01B 11/00
FI (7):
G01B 21/00 W
, G01B 21/00 D
, G01B 21/00 E
, B22D 2/00
, F27D 1/00 V
, F27D 1/16 V
, G01B 11/00 B
F-Term (54):
2F065AA03
, 2F065AA04
, 2F065AA06
, 2F065AA30
, 2F065AA52
, 2F065AA60
, 2F065AA63
, 2F065BB08
, 2F065BB27
, 2F065CC00
, 2F065DD06
, 2F065FF12
, 2F065FF32
, 2F065FF65
, 2F065GG06
, 2F065GG08
, 2F065GG12
, 2F065JJ01
, 2F065JJ18
, 2F065LL15
, 2F065LL62
, 2F065MM07
, 2F065MM16
, 2F065NN02
, 2F065NN08
, 2F065PP02
, 2F065QQ00
, 2F065QQ23
, 2F065QQ41
, 2F065QQ42
, 2F069AA03
, 2F069AA04
, 2F069AA24
, 2F069AA47
, 2F069AA61
, 2F069BB40
, 2F069CC01
, 2F069DD15
, 2F069GG04
, 2F069GG07
, 2F069GG11
, 2F069HH09
, 2F069JJ02
, 2F069KK03
, 2F069MM04
, 2F069NN00
, 2F069NN09
, 2F069NN25
, 2F069NN26
, 4K051AA02
, 4K051AB03
, 4K051AB05
, 4K051BH01
, 4K051LJ03
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (4)
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特公平7-001163
-
部品の円特徴の三次元位置姿勢検出装置、その検出方法及びその記録媒体
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-136452
Applicant:株式会社明電舎
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特開平1-114705
-
特公平7-069148
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Cited by examiner (4)