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J-GLOBAL ID：200903027734558843

螢光X線分析装置

Inventor： 大石 誠 ,  池田 昌彦 ,  吉光 克弘
Applicant, Patent owner： 株式会社堀場製作所
Agent (1)： 藤本 英夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997316564
Publication number (International publication number)：1999132970
Application date： Nov. 01, 1997
Publication date： May. 21, 1999
Summary：

【要約】【課題】 軽元素等を高い検出感度で分析することのできる螢光X線分析装置を提供する。【解決手段】 X線発生管3とX線ガイドチューブ4およびX線検出器5を内部に収納した本体容器1にガス導入口2を設けると共に、その底部6に小孔61を穿設し、前記ガス導入口2から前記本体容器1内に導入したHeガスを小孔61から試料8の表面に向けて噴出させつつ、小孔61を通過した一次X線31をHeガス雰囲気で包囲された試料8の表面に照射させ、発生した螢光X線32を小孔61を通してX線検出器5で検出する。

Claim (excerpt)：

X線発生管とX線ガイドチューブおよびX線検出器を内部に収納した本体容器にガス導入口を設けると共に、その底部に小孔を穿設し、前記ガス導入口から前記本体容器内に導入したHeガスを前記小孔から試料の表面に向けて噴出させつつ、前記小孔を通過した一次X線を前記Heガス雰囲気で包囲された試料表面に照射させ、発生した螢光X線を前記小孔を通して前記X線検出器で検出するように構成してなることを特徴とする螢光X線分析装置。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 液体試料保持装置および液体試料分析装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-250455   Applicant：株式会社テクノス研究所
• 蛍光X線分析装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-052470   Applicant：株式会社島津製作所