フェーズドアレイによる探傷方法及び探傷装置

Inventor： , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：光石俊郎 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001216305
Publication number (International publication number)：2003028845
Application date： Jul. 17, 2001
Publication date： Jan. 29, 2003
Summary：

【要約】【課題】先端の形状に拘らず欠陥20の定量化を容易に行う。【解決手段】送信グループ13の探触子群12と受信グループ14の探触子群12とをペアに構成し、反射波19が受信された受信グループ14の探触子群12を演算処理部16で対応させて解析し、面反射エコーを用いて略垂直に存在する欠陥20の高さを正確に評価すし、先端の形状に拘らず欠陥20の定量化を容易に行う。

Claim (excerpt)：

多数の探触子をアレイ状に配設してフェーズドアレイ探触子を形成し、多数の探触子を1個もしくは複数個づつに分けた探触子群を複数組形成し、各探触子群を順次切り換えて超音波を送出し、受信手段で超音波の反射波を受信すると共に、受信された反射波に対応する超音波を送出した探触子群を特定することで、傷の高さを評価することを特徴とするフェーズドアレイによる探傷方法。

IPC (2)：

G01N 29/26 503 , G01N 29/10

FI (2)：

G01N 29/26 503 , G01N 29/10

F-Term (11)：

2G047BA03 , 2G047BB02 , 2G047BC07 , 2G047CA01 , 2G047DB02 , 2G047EA10 , 2G047GB02 , 2G047GB16 , 2G047GF06 , 2G047GF15 , 2G047GF17

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (6)

超音波アレイ探傷法及び超音波アレイ探傷装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平11-127464 Applicant：東京瓦斯株式会社
特開昭53-057893
特開昭54-143194

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Cited by examiner (8)

超音波アレイ探傷法及び超音波アレイ探傷装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平11-127464 Applicant：東京瓦斯株式会社
特開昭53-057893
特開昭53-057893

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