超音波アレイ探傷法及び超音波アレイ探傷装置

Inventor： ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：平木祐輔 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999127464
Publication number (International publication number)：2000321251
Application date： May. 07, 1999
Publication date： Nov. 24, 2000
Summary：

【要約】【課題】アレイ探触子によりきずの開口部、端部、及び高さを高精度で測定できる超音波アレイ探傷法及び超音波アレイ探傷装置を提供すること。【解決手段】アレイ探触子1を被検査物Mに沿って移動させ、超音波ビームが被検査物Mの底面ときず15の側面とで2回反射されて受信されるビーム受信時間差分布の極小値が送信ビームの中心と一致するときのアレイ探触子位置からきず15の開口部15aを測定し、アレイ探触子での受信強度分布に明瞭なピークがなくなるアレイ探触子位置からきずの端部15bを測定し、開口部15a及び端部15bを測定したアレイ探触子位置間の距離と探傷屈折角からきず15の高さHを算出する。

Claim (excerpt)：

アレイ探触子から被検査物の中にその表面に対して斜めに超音波ビームを送信し、前記アレイ探触子を素子の配列方向に走査させ、各素子のビーム受信時間差分布の極小値が送信ビームの中心と一致するときの前記アレイ探触子の位置からきずの開口部の位置を求めることを特徴とする超音波アレイ探傷法。

IPC (3)：

G01N 29/10 , G01B 17/00 , G01N 29/24 502

FI (3)：

G01N 29/10 , G01B 17/00 Z , G01N 29/24 502

F-Term (28)：

2F068AA49 , 2F068AA50 , 2F068FF03 , 2F068FF12 , 2F068FF15 , 2F068FF16 , 2F068GG01 , 2F068JJ02 , 2F068KK12 , 2F068LL04 , 2F068QQ05 , 2F068QQ14 , 2F068QQ22 , 2F068QQ44 , 2G047AB07 , 2G047BB02 , 2G047BC07 , 2G047BC10 , 2G047DB02 , 2G047EA10 , 2G047GA19 , 2G047GB02 , 2G047GF06 , 2G047GG09 , 2G047GG19 , 2G047GG23 , 2G047GG24 , 2G047GG30

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (8)

アレイ超音波探傷法及びその装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平8-066151 Applicant：東京瓦斯株式会社
特開昭63-070160
特公平2-057270

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Article cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

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