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J-GLOBAL ID:200903028657369176

イオンビーム発生装置、イオンビーム発生方法および機能素子の製造方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (3): 山本 秀策 ,  安村 高明 ,  大塩 竹志
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2004222566
Publication number (International publication number):2006040821
Application date: Jul. 29, 2004
Publication date: Feb. 09, 2006
Summary:
【課題】 質量分離機に外乱が加わっても、イオンビームの調整を容易に行う。【解決手段】 放電により複数種のイオンを生成し、生成した複数種のイオンからなる第1イオンビームIaを出力させるイオン源1と、このイオン源1から出力された第1イオンビームの中から特定種類のイオンのみを分離抽出して第2イオンビームIbを出力させる質量分離機2と、質量分離機2内に中和用電子を供給する中和用フィラメント3と、イオン源1への放電電力を観測する放電電力観測機4と、質量分離機2から出力される第2イオンビームの電流値を観測するビーム電流観測機5と、放電電力観測機4の出力とビーム電流観測機5の出力との関係が所定の関係になるように、中和用フィラメント3から質量分離機2内に供給される電子量を出力調整する第1の制御手段6と、ビーム電流観測機5の出力が所定の値とするべく、イオン源1の放電電力を出力調整する第2の制御手段7とを有する。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
放電により複数種のイオンを生成し、生成した該複数種のイオンからなる第1イオンビームを出力させるイオン源と、 該イオン源から出力された該第1のイオンビームの中から、一または複数の特定種類のイオンを分離抽出した第2イオンビームを出力させる質量分離機と、 該質量分離機内に中和用電子を供給する中和用フィラメントと、 該イオン源の放電電力を観測する放電電力観測手段と、 該質量分離機から出力される該第2イオンビームの電流を観測するビーム電流観測手段と、 該放電電力観測手段の出力と該ビーム電流観測手段の出力との関係が所定の関係となるように、該中和用フィラメントの消費電力を制御する第1の制御手段とを有するイオンビーム発生装置。
IPC (1):
H01J 37/317
FI (1):
H01J37/317 C
F-Term (4):
5C034CC01 ,  5C034CC17 ,  5C034CD01 ,  5C034CD02
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (1)
  • イオンビーム装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平7-340297   Applicant:株式会社日立製作所
Cited by examiner (3)

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