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J-GLOBAL ID：200903028702079923

分子間相互作用測定プレートおよび測定装置

Inventor： 濱崎 勇二
Applicant, Patent owner： 株式会社島津製作所
Agent (1)： 竹本 松司 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997105671
Publication number (International publication number)：1998300667
Application date： Apr. 23, 1997
Publication date： Nov. 13, 1998
Summary：

【要約】【課題】 多数試料の自動測定を可能とし、また、多数試料の高速測定を可能とする分子間相互作用測定プレートおよび測定装置を提供する。【解決手段】 分子間相互作用の測定に用いる測定プレートであり、表面プラズモン共鳴による多数の試料のサンプルを一つの測定プレート上に生成することによって、多数試料の自動測定および高速測定を可能とするものである。多数の試料のサンプルを一つの測定プレート1上に生成するために、平面基板3面に複数個の有底の開口部5を有し、開口部5の底部内面に金属薄膜を備え、また、この金属薄膜と高屈折率で光学的に接続する光学系6とを備えた構成とする。

Claim (excerpt)：

平面基板面に複数個の有底の開口部を有し、開口部の底部内面に金属薄膜を備え、該金属薄膜と高屈折率で光学的に接続する光学系とを備えたことを特徴とする分子間相互作用測定プレート。

IPC (2)：

G01N 21/41 ,  G01N 21/27

FI (2)：

G01N 21/41 Z ,  G01N 21/27 C

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 特表平1-502930
  
• 表面プラズモンセンサー
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平9-264087   Applicant：富士写真フイルム株式会社
• 特開昭61-226644