Pat

J-GLOBAL ID：200903028776706288

大気圧イオン源

Inventor： 藤巻奨
Applicant, Patent owner： 日本電子株式会社
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998233380
Publication number (International publication number)：2000067806
Application date： Aug. 20, 1998
Publication date： Mar. 03, 2000
Summary：

【要約】【課題】大気圧下で生成したイオンの高真空領域へのサンプリング効率を高めることのできる大気圧イオン源を提供する。【解決手段】交流電圧と直流電圧を同時に印加でき、かつ、平面内に穴を有する2枚の平板電極をほぼ平行に配置すると共に、該平板電極の外側に、直流電圧を印加できる平板電極をほぼ平行に配置し、大気圧下で生成するイオンを前記2枚の平板電極間にトラップさせて、質量分析計に導くようにした。

Claim (excerpt)：

交流電圧と直流電圧を同時に印加でき、かつ、平面内に穴を有する2枚の平板電極をほぼ平行に配置すると共に、該平板電極の外側に、直流電圧を印加できる平板電極をほぼ平行に配置し、大気圧下で生成するイオンを前記2枚の平板電極間にトラップさせて、質量分析計に導くようにしたことを特徴とする大気圧イオン源。

IPC (2)：

H01J 49/06 ,  H01J 49/10

FI (2)：

H01J 49/06 ,  H01J 49/10

F-Term (6)：

5C038FF01 ,  5C038FF10 ,  5C038FF13 ,  5C038GG08 ,  5C038GH02 ,  5C038GH11

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (3)

• 特開昭51-027389
  
• イオントラップ型質量分析計
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-001443   Applicant：横河電機株式会社
• 特公昭35-000697