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J-GLOBAL ID:200903028960858007

ZnOフィルム及びこれを用いたTFTの製造方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (3): 小野 由己男 ,  稲積 朋子 ,  堀川 かおり
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2007002964
Publication number (International publication number):2007194628
Application date: Jan. 11, 2007
Publication date: Aug. 02, 2007
Summary:
【課題】低温ZnO多結晶フィルム及びこれを用いたTFTの製造方法を提供する。【解決手段】MOCVDによって第1の温度で第1の時間の間基板にZnOを成長させてZnOバッファ層を形成する工程と、第1の温度より低い温度で基板を加熱し、第1の時間より長い第2の時間の間バッファ層上にZnOを成長させてZnOフィルムを形成する工程とを含む低温ZnO多結晶フィルムの製造方法である。これにより、200°C低温でも実用的な良質のZnOフィルムを成長でき、従って熱に弱い基板、例えば、プラスチック基板に形成することができる。【選択図】図1
Claim (excerpt):
MOCVDによって第1の温度で第1の時間の間基板にZnOを成長させてZnOバッファ層を形成する工程と、 前記第1の温度より低い温度で基板を加熱し、前記第1の時間より長い第2の時間の間前記バッファ層上にZnOを成長させてZnOフィルムを形成する工程とを含むことを特徴とするZnOフィルムの製造方法。
IPC (7):
H01L 21/365 ,  H01L 29/786 ,  H01L 21/336 ,  H01L 21/02 ,  H01L 27/12 ,  H01L 21/762 ,  H01L 21/76
FI (6):
H01L21/365 ,  H01L29/78 618B ,  H01L29/78 618A ,  H01L27/12 E ,  H01L21/76 D ,  H01L21/76 E
F-Term (41):
5F032AA09 ,  5F032AA91 ,  5F032CA05 ,  5F032CA09 ,  5F032CA17 ,  5F032DA02 ,  5F045AA04 ,  5F045AB22 ,  5F045AC07 ,  5F045AC11 ,  5F045AC15 ,  5F045AD06 ,  5F045AD07 ,  5F045AE29 ,  5F045AF06 ,  5F045AF07 ,  5F045BB07 ,  5F045CA15 ,  5F045DA53 ,  5F045EE03 ,  5F045EE12 ,  5F045GB11 ,  5F045GB12 ,  5F110AA17 ,  5F110BB01 ,  5F110CC01 ,  5F110CC03 ,  5F110CC05 ,  5F110CC07 ,  5F110DD01 ,  5F110DD05 ,  5F110FF02 ,  5F110FF03 ,  5F110GG01 ,  5F110GG06 ,  5F110GG19 ,  5F110GG28 ,  5F110GG29 ,  5F110GG33 ,  5F110GG44 ,  5F110HK03
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (2)
  • 米国特許第6,808,743号明細書
  • 米国特許第6,664,565号明細書
Cited by examiner (2)

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