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J-GLOBAL ID：200903029399049427

質量分析方法及び装置

Inventor：
永井 伸治

About 永井 伸治


Applicant, Patent owner：
株式会社日立製作所

About 株式会社日立製作所


Agent (1)： 春日 讓
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998343196
Publication number (International publication number)：2000171442
Application date： Dec. 02, 1998
Publication date： Jun. 23, 2000
Summary：
【要約】【課題】開裂反応の条件調整を、一回の試料注入により自動的に実行でき、操作性が向上し、短時間で条件調整が可能な質量分析方法を実現する。【解決手段】ステップS1で試料注入しステップS2で開裂条件1を設定しステップS3でイオンを生成しステップS4で質量数範囲100〜800のスペクトルを得る。ステップS5でイオン強度が閾値以上ならステップS6で最もイオン強度が高い質量数のイオンを選択しステップS7で開裂条件Xで開裂反応させステップS8でその条件Xでのマススペクトルを取得しステップS9でメモリに格納する。ステップS10で開裂条件を変更しステップS11で設定時間が経過したかを判断し経過してなければステップS3に戻る。ステップS11で設定時間が経過すればステップS12でメモリに格納したスペクトルデータの中から生成イオン/選択イオンの強度比が最大の開裂条件を判定する。
Claim (excerpt)：
試料導入手段と、試料分離手段と、試料をイオン化するイオン化部と、質量分析部とを有する質量分析装置において、イオン化部により生成されたイオンのうち特定イオンを選択し、上記試料中の1成分で複数回だけ開裂条件を変更しながら、上記特定イオンを開裂反応させて質量数を掃引してマススペクトルデータを得る動作制御手段を備えることを特徴とする質量分析装置。
IPC (2)：
G01N 27/62 ,  H01J 49/26
FI (4)：
G01N 27/62 V ,  G01N 27/62 C ,  G01N 27/62 X ,  H01J 49/26
F-Term (7)：
5C038HH16 ,  5C038HH21 ,  5C038HH26 ,  5C038HH28 ,  5C038JJ06 ,  5C038JJ07 ,  5C038JJ11
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (1)

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