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J-GLOBAL ID：200903035020594903

質量分析方法および装置

Inventor： 永井 伸治
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所
Agent (1)： 富田 和子
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996301740
Publication number (International publication number)：1998142196
Application date： Nov. 13, 1996
Publication date： May. 29, 1998
Summary：

【要約】【課題】MSnデータのための標準試料を添加することなく定量分析する。【解決手段】MS分析(ステップ503〜504)とMSn分析(ステップ505〜509)とを、途中に試料注入処理を挟むことなく、連続して行なうことにより、試料注入量の誤差によるMSデータとMSnデータとの間のイオン強度の変動を回避する。

Claim (excerpt)：

質量分析計による質量分析方法において、上記質量分析計に測定対象試料を注入するステップと、MS1データ収集ステップ、および、MSnデータ収集ステップを連続して繰り返すステップとを備え、上記MS1データ収集ステップは、上記測定対象試料をイオン化して生成したイオンについて、一定範囲の質量数を掃引してマススペクトルデータを収集するステップであり、上記MSnデータ収集ステップは、上記測定対象試料をイオン化して生成したイオンのうち、あらかじめ定められた特定質量数のイオンを選別し、該特定質量数イオンを開裂させる開裂ステップと、開裂により得られたイオンについて、一定範囲の質量数を掃引してマススペクトルデータを得る掃引ステップとを備えることを特徴とする質量分析方法。

IPC (2)：

G01N 27/62 ,  H01J 49/26

FI (2)：

G01N 27/62 D ,  H01J 49/26

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 多極イオンガイドのイオントラップ質量分光測定
  Gazette classification：公表公報   Application number：特願平10-509973   Applicant：アナリチカオブブランフォード,インコーポレーテッド
• 質量分析装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平7-002401   Applicant：株式会社日立製作所