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J-GLOBAL ID:200903029626007426
健全性評価用の光ファイバを埋設した構造物及びその検証方法
Inventor:
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Applicant, Patent owner:
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Agent (1):
鈴木 正次 (外2名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2002008503
Publication number (International publication number):2003213676
Application date: Jan. 17, 2002
Publication date: Jul. 30, 2003
Summary:
【要約】【課題】予め収集した事前データとを比較し、既製杭等の構造物内に埋設した被覆光ファイバにより、施工された構造物の健全性、正確な破断位置、破断状況を把握する。【解決手段】コア部4とグラッド部5とからなる光ファイバ1の外周面を被覆材6で覆い、被覆光ファイバ10を構成する(a)。ビニル管等の被覆管材7を密着して(c)、又は間隙8を設け(d)、他の被覆光ファイバ10とし、複数の光ファイバ1を束ね被覆材6を施し他の被覆光ファイバ10とする(b)こともできる。被覆光ファイバ10を鉄筋篭のPC鋼棒に沿って取付け、遠心成形・養生して既製杭を製造する。被覆材6、7は、既製杭の製造、搬送、施工等の際に破壊せず、光ファイバ1を保護し、かつ、地震時等に既製杭が破損した際に、破損個所で光ファイバ1と共に切断するような材料・厚さで形成する。
Claim (excerpt):
構造物のコンクリート部及び/又は鋼材に被覆光ファイバを取り付けて埋設した構造物であって、前記被覆光ファイバは、光ファイバの外周面を、前記構造物の破損度合を計測するために最適の条件で構成した被覆材で覆ったことを特徴とする健全性評価用の光ファイバを埋設した構造物。
IPC (3):
E02D 5/58
, E02D 5/28
, E02D 5/30
FI (3):
E02D 5/58 Z
, E02D 5/28
, E02D 5/30 Z
F-Term (4):
2D041AA02
, 2D041DB02
, 2D041DB05
, 2D041DB07
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (5)
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